[实用新型]BGA272自动机测试用翻盖测试座

说明书

本实用新型公开了一种BGA272自动机测试用翻盖测试座，包括上盖、底座和座内测试机构，上盖的一侧与底座的一侧转动连接，座内测试机构设置在底座顶面的安装槽内，上盖的底面设有压块，上盖与底座之间通过可拆卸式转动连接结构连接，上盖底面的两侧还设有限位凸块，所述限位凸块包括固定部和弹性部，座内测试机构包括从上到下依次设置的限位框、上针板、冲压弹簧针和下针板，冲压弹簧针上部露针短于0.4mm，冲压弹簧针下部露针短于0,3mm，冲压弹簧针在上针板和下针板的活动量不能超过0.2mm。解决现有测试座上盖与底座之间无法拆卸、测试座的冲压弹簧针上部露针和下部露针尺寸均较大，容易影响测试良率以及现有测试座的上盖底面没有设置限位机构的的问题。

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试用装置领域，特别是一种BGA272自动机测试用翻盖测试座。

背景技术

BGA272自动机测试用翻盖测试座是一种较为成熟的测试座，但是现有的测试座仍然是存在一些问题的，第一就是其上盖与底座之间是无法拆卸的，第二则是现有的测试座的冲压弹簧针上部露针和下部露针尺寸均较大，容易影响测试良率的问题，第三就是现有测试座的上盖底面是没有设置限位机构的，一旦上盖与底座之间的连接出问题，下压时用力过猛就很容易损坏待测件和冲压弹簧针。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种BGA272自动机测试用翻盖测试座，解决现有测试座上盖与底座之间无法拆卸、测试座的冲压弹簧针上部露针和下部露针尺寸均较大，容易影响测试良率以及现有测试座的上盖底面没有设置限位机构的的问题。

为解决上述的技术问题，本实用新型采用以下技术方案：

一种BGA272自动机测试用翻盖测试座，包括上盖、底座和座内测试机构，所述上盖的一侧与底座的一侧转动连接，所述座内测试机构设置在底座顶面的安装槽内，所述上盖的底面设有压块，所述上盖与底座之间通过可拆卸式转动连接结构连接，所述上盖底面的两侧还设有限位凸块，所述限位凸块包括固定部和弹性部，座内测试机构包括从上到下依次设置的限位框、上针板、冲压弹簧针和下针板，所述冲压弹簧针上部露针短于0.4mm，冲压弹簧针下部露针短于0,3mm，所述冲压弹簧针在上针板和下针板的活动量不能超过0.2mm。

通过可拆卸式转动连接结构连接能将上盖从底座上拆卸下来，留下底座和座内测试机构，就可实现在自动机台上进行人工手动测试，其次将冲压弹簧针上部露针控制在了0.4mm内，冲压弹簧针下部露针控制在了0,3mm以内，并且使冲压弹簧针在上针板和下针板的活动量不能超过0.2mm，使得测试良率受到的影响较小，提高了测试的准确性，由于在上盖底面的两侧还设有限位凸块，即使可拆卸式转动连接结构坏掉了，也不会因为用力过猛而导致待测件和冲压弹簧针出现损坏，因为当上盖下压到一定程度后，就会被限位凸块限制继续向下运动，限位凸块又分为了固定部和弹性部，这是为了留出一定的误差空间。

作为本实用新型的进一步优选，所述可拆卸式转动连接结构包括下转动支座和上转动支座，所述下转动支座设置在底座顶面一侧的两端，所述上转动支座则设置在上盖的一侧，所述下转动支座的内侧与上转动支座的外侧相接，所述上转动支座的外侧设有伸缩型转轴，所述下转动支座正对伸缩型转轴的位置处则设有转轴连接通孔，所述上转动支座通过插设在转轴连接通孔处的伸缩型转轴与下转动支座转动连接。

所述伸缩型转轴包括弹簧和连接转动轴两部分，在转轴连接通孔的外侧向转轴连接通孔内的伸缩型转轴施加压力，伸缩型转轴的弹簧就被压缩，就能将上盖从底座上取下。

作为本实用新型的进一步优选，所述上盖与底座之间还设有卡接机构，所述卡接机构位于与可拆卸式转动连接结构相对的另一侧。

便于按压时卡接。

作为本实用新型的进一步优选，所述限位框的倒角采用的是大倒角结构。

这是为了让自动机取放更为方便。