[实用新型]一种水冷式间歇工作寿命测试装置有效

专利信息
申请号: 202221695154.3 申请日: 2022-06-30
公开(公告)号: CN217674164U 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 朱永兵 申请(专利权)人: 天津海瑞电子科技有限公司
主分类号: B65D25/10 分类号: B65D25/10;B65D25/02;B65D25/20;B65D25/24;G01R1/04
代理公司: 天津展誉专利代理有限公司 12221 代理人: 齐文娟
地址: 300392 天津市滨海新区华苑产业*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 水冷 间歇 工作 寿命 测试 装置
【说明书】:

本申请提供了一种水冷式间歇工作寿命测试装置,属于半导体测试设备技术领域。该水冷式间歇工作寿命测试装置包括防护组件和收纳组件,电动推杆会带动支撑板向下移动,可以带动支撑板上的测试机本体移动至移动箱的内部,同时可以带动连接杆向移动箱的内部进行移动,从而可以带动箱盖与移动箱紧密贴合,可以防止测试机本体不使用时积累较多的灰尘,移动箱可以对测试机本体进行保护,可以防止测试机本体受到外力碰撞造成测试元件损坏,并且移动箱可以起到方便移动携带的作用,进而方便对测试机本体进行收纳防护,防止受到外力碰撞时,造成测试元件损坏,同时方便对其进行携带,便于使用者调整其作业区域,从而提高了实用性。

技术领域

本实用新型具体涉及一种水冷式间歇工作寿命测试装置。

背景技术

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明应用、大功率电源转换等领域已得到广泛应用。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等,其在投入使用前需要用寿命测试设备进行不同温度、不同电流下的寿命进行测试,如中国专利申请号为CN202122096341.1的一种测试效率高的水冷式间歇工作寿命测试机,包括机箱、多块水冷板及安装于每块水冷板上的多个被测元件固定装置,机箱底板上设有多个纵向导槽,每块所述水冷板底部固定安装有两个导板,所述导板插入相应的导槽内,每块所述水冷板上表面开设有多排限位盲孔,水冷板内外两侧一体成型有导轨,每个所述被测元件固定装置包括滑动的安装于导轨上的门形安装架、多个顶紧组件及被测元件安装座,每个所述顶紧组件包括滑片及顶紧螺栓,所述滑片滑动的卡装到门形安装架上且滑片中部开设有螺纹孔,所述顶紧螺栓穿过螺纹孔,所述被测元件安装座四角分别开设有通孔。

但是上述方案仍然具有一定的缺陷:当测试机不使用时,长时间暴露在空气当中,容易积累较多的灰尘,同时不方便对其进行防护,受到外力碰撞时,容易造成测试元件损坏,且不方便对其进行携带,导致使用者不便于调整其作业区域,使用局限性较高,从而降低了实用性。

实用新型内容

为了弥补以上不足,本申请提供一种水冷式间歇工作寿命测试装置,旨在改善相关技术中当测试机不使用时,长时间暴露在空气当中,不方便对其进行防护,且不方便对其进行携带,导致使用者不便于调整其作业区域,从而降低了实用性的问题。

本申请实施例提供了一种水冷式间歇工作寿命测试装置包括防护组件和收纳组件。

所述防护组件包括移动箱和箱盖,所述箱盖设置于所述移动箱一侧,所述收纳组件包括电动推杆、支撑板、测试机本体、固定件和连接杆,所述电动推杆设置于所述移动箱内部,所述支撑板设置于所述移动箱内部,且所述电动推杆输出端与所述支撑板固定连接,所述测试机本体设置于所述支撑板一侧,所述固定件相对应设置于所述支撑板一侧,且所述固定件与所述测试机本体相贴合,所述连接杆一端与所述支撑板固定连接,且所述连接杆另一端与所述箱盖固定连接。

在上述实现过程中,当需要对测试机本体进行防护时,支撑板设置于移动箱内部,且电动推杆输出端与支撑板固定连接,测试机本体设置于支撑板一侧,固定件相对应设置于支撑板一侧,且固定件与测试机本体相贴合,连接杆一端与支撑板固定连接,且连接杆另一端与箱盖固定连接,使用者可以启动电动推杆,电动推杆会带动支撑板向下移动,可以带动支撑板上的测试机本体移动至移动箱的内部,同时可以带动连接杆向移动箱的内部进行移动,从而可以带动箱盖与移动箱紧密贴合,可以对测试机本体起到收纳的作用,可以防止测试机本体不使用时积累较多的灰尘,反之操作即可对测试机本体进行使用,同时通过移动箱可以对测试机本体进行保护,可以防止测试机本体受到外力碰撞造成测试元件损坏,并且移动箱可以起到方便移动携带的作用,进而方便对测试机本体进行收纳防护,防止受到外力碰撞时,造成测试元件损坏,同时方便对其进行携带,便于使用者调整其作业区域,从而提高了实用性。

在一种具体的实施方案中,所述移动箱包括箱体和万向轮,所述万向轮设置于所述箱体一侧。

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