[实用新型]一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩

说明书

本实用新型涉及一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，包括测试罩本体，测试罩本体的底部固定连接有橡胶支撑垫，测试罩本体的内部活动连接有测试内衬，测试罩本体的顶部设置有固定组件；固定组件包括安装套筒，安装套筒的底部与测试罩本体的顶部固定连接，安装套筒的内部固定连接有数量为两个的固定板。该用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，当需要测试的时候，通过旋转连杆带卡块在转动空腔的内部旋转九十度后，拉动连杆在弹簧的作用下向上移动，将测试内衬放进测试罩本体的内部后，松开连杆并旋转九十度后，使卡块卡进转动空腔的内部，通过弹簧与活动板的作用，从而让测试罩本体通过卡块与测试内衬固定连接即可。

技术领域

本实用新型涉及相控阵天线高低温试验用设备技术领域，具体为一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩。

背景技术

相控阵天线根据其应用场景的不同，会出现应用在极端温度下的情况，而高低温工作试验是目前检验相控阵天线温度环境适应性的常用及有效的方法。由于相控阵天线性能的特殊性——相控阵天线是用来接收和发射辐射电磁波的，且辐射电磁波存在无穷个波束。所以相控阵天线性能测试必须采用开环式测试方法。这就导致相控阵列天线容易受到测试环境的影响，对测试环境要求极为严苛，常温状态下都需要到专业的微波暗室进行测试。

现有的测试罩遮盖内部的相控阵列天线，能使相控阵天线不再受温度试验箱带来的其它因素的影响，保证了温度试验测试数据的准确性，但是在测试罩在与测试内衬固定连接时很不方便，进而影响了测试工作的进行，故而提出

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，具备操作简单，固定牢靠等优点，解决了现有测试罩与测试内衬不方便固定的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，包括测试罩本体，所述测试罩本体的底部固定连接有橡胶支撑垫，所述测试罩本体的内部活动连接有测试内衬，所述测试罩本体的顶部设置有固定组件；

所述固定组件包括安装套筒，所述安装套筒的底部与所述测试罩本体的顶部固定连接，所述安装套筒的内部固定连接有数量为两个的固定板，两个所述固定板的内部均开设有滑动槽，两个所述滑动槽的内部滑动连接有同一活动板，所述活动板的顶部固定连接有弹簧，所述弹簧的顶部与所述安装套筒的内部固定连接，所述活动板的内部转动连接有转动块，所述转动块的内部固定连接有连杆，所述测试内衬的内部开设有转动空腔，所述转动空腔的内部活动连接有卡块，所述卡块的顶部与所述连杆的底部固定连接，所述测试罩本体的内部开设有活动方孔。

进一步，所述测试罩本体的顶部活动连接有数量为两个的固定块，两个所述固定块的顶部固定连接有同一把手，所述把手的外表面固定连接有橡胶隔热套。

进一步，两个所述固定块的内部均开设有螺纹孔，两个所述螺纹孔均贯穿并延伸至测试内衬的内部，两个所述螺纹孔的内部均螺纹连接有紧固螺钉，两个所述紧固螺钉的大小与两个所述螺纹孔的大小相适配。

进一步，两个所述橡胶支撑垫的形状均为圆柱形，所述测试内衬的内部活动连接有测试接头，所述安装套筒的内部开设有连杆孔，所述连杆的大小与所述连杆孔大小相适配，所述连杆的顶部固定连接有拉环。

进一步，所述活动板的左右两端的宽度均与两个所述滑动槽的宽度相适配，所述活动板的内部开设有活动空腔，所述转动块的大小与所述活动空腔大小相适配。

进一步，所述转动空腔的直径与所述卡块的长度相适配，所述活动方孔的宽度与所述卡块的宽度相适配。

与现有技术相比，本申请的技术方案具备以下有益效果：