[实用新型]一种集成电路继电器驱动测试系统

权利要求书

1.一种集成电路继电器驱动测试系统，其特征在于，包括测试仪（1）、待测IC（2）、继电器（4）与达林顿管（3）；

所述测试仪（1）的IO接口与所述达林顿管（3）连接，所述达林顿管（3）的输出端与所述继电器（4）连接，所述继电器（4）的测试端与所述待测IC（2）连接。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路继电器驱动测试系统，其特征在于，所述测试仪（1）设有多个与所述继电器（4）连接的继电器控制位，所述继电器控制位分别与所述达林顿管（3）对应引脚连接。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路继电器驱动测试系统，其特征在于，所述达林顿管（3）对应所述待测IC（2）的待测引脚可设置为多个，多个所述达林顿管（3）的输入端引脚与所述测试仪（1）连接。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路继电器（4）驱动测试系统，其特征在于，所述达林顿管（3）的输出端对应每一所述继电器（4）均设有对应的引脚，每一引脚连接一个所述继电器（4）。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路继电器（4）驱动测试系统，其特征在于，所述继电器（4）的输入端与所述达林顿管（3）的输出端连接，所述继电器（4）的输出端与所述待测IC（2）的测试端连接。

6.根据权利要求5所述的一种集成电路继电器（4）驱动测试系统，其特征在于，所述继电器（4）的数量与所述待测IC（2）上的测试端数量相同。

7.根据权利要求1所述的一种集成电路继电器（4）驱动测试系统，其特征在于，所述达林顿管（3）设置为ULN2003型。

8.根据权利要求1所述的一种集成电路继电器（4）驱动测试系统，其特征在于，所述达林顿管（3）、所述继电器（4）以及所述待测IC（2）的总负载大于等于所述测试仪（1）的驱动能力。