[实用新型]一种模组测试装置以及模组测试系统

说明书

本实用新型公开一种模组测试装置以及模组测试系统，涉及模组测试技术领域，以解决在对待测模组进行每项测试前，需要将待测模组重新放入测试装置中，导致测试效率低、测试耗时长的问题。所述模组测试装置包括：控制器、多个测试连接单元、第一开关器件、第二开关器件以及电源。其中，控制器具有固件烧录测试端、射频校准测试端以及开机检查测试端，固件烧录测试端、射频校准测试端以及开机检查测试端分别通过相应的测试连接单元与待测模组的相应测试接点电连接。电源通过第一开关器件与多个测试连接单元电连接，且第一开关器件还与控制器电连接。电源还通过第二开关器件与待测模组电连接，且第二开关器件还与控制器电连接。

技术领域

本实用新型涉及模组测试技术领域，尤其涉及一种模组测试装置以及模组测试系统。

背景技术

随着物联网行业的迅速发展，物联网模组的市场需求量日益增大，对物联网模组的生产测试效率以及质量等都提出了更高要求。物联网模组的一般测试流程为：烧录测试固件-射频校准综测-开机功能检查，每个测试流程都需要搭建一个工序的测试工位。

现有技术中，为了提高物联网模组的测试效率，多采用机械手等自动化设备来自动抓取放置物联网模组，但此种方案在进行每项测试前，都需要将待测模组重新放入测试装置中，存在测试效率低、耗时长的缺点。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种模组测试装置以及模组测试系统，用于解决在对待测模组进行每项测试前，需要将待测模组重新放入测试装置中，导致测试效率低、测试耗时长的问题。

本实用新型提供一种模组测试装置，用于对待测模组进行测试，包括：控制器、多个测试连接单元、第一开关器件、第二开关器件以及电源。其中，控制器具有固件烧录测试端、射频校准测试端以及开机检查测试端，固件烧录测试端、射频校准测试端以及开机检查测试端分别通过相应的测试连接单元与待测模组的相应测试接点电连接。电源通过第一开关器件与多个测试连接单元电连接，且第一开关器件还与控制器电连接。电源还通过第二开关器件与待测模组电连接，且第二开关器件还与控制器电连接。

与现有技术相比，本实用新型提供的模组测试装置中，控制器的固件烧录测试端、射频校准测试端以及开机检查测试端分别通过相应的测试连接单元与待测模组的相应测试接点电连接，基于此，控制器的烧录测试端通过相应的测试连接单元可以实现对待测模组的固件烧录工序，控制器的射频校准测试端通过相应的测试连接单元可以实现对待测模组的射频校准测试工序，控制器的开机检查测试端通过相应的测试连接单元可以实现对待测模组的开机功能检查工序，无需抓取待测模组在各个测试工序间转移，节约了测试时间，提高了测试效率。电源通过第一开关器件分别与多个测试连接单元电连接，且第一开关器件还与控制器电连接，当需要对待测模组进行测试时，控制器可以控制第一开关器件的通断，从而使得电源仅能向相应的测试连接单元供电，以确保在进行当前测试时，不会受到其他测试连接单元的干扰，避免影响测试结果。电源还通过第二开关器件与待测模组电连接，且第二开关器件还与控制器电连接，当完成每项测试后，控制器可以控制第二开关器件的通断，从而使得电源向待测模组供电，实现每项测试之后的重新上电。由此可知，本实用新型提供的模组测试装置，在待测模组的相应接点与控制器连接后，就能够实现对于待测模组的多项测试工序，无需在每项测试前将待测模组与相应的装置重新连接，从而节约测试时间，提高测试效率。

本实用新型还提供一种模组测试系统，包括上述技术方案中的模组测试装置。

与现有技术相比，本实用新型提供的模组测试系统的有益效果与上述技术方案所述的模组测试装置的有益效果相同，此处不做赘述。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型实施例提供的模组测试装置的结构示意图。

附图标记：