[实用新型]模数转换器、集成电路以及电子设备有效

专利信息
申请号: 202221083520.X 申请日: 2022-05-07
公开(公告)号: CN217563639U 公开(公告)日: 2022-10-11
发明(设计)人: 丁召明;陈敏 申请(专利权)人: 芯海科技(深圳)股份有限公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10;H03M1/38
代理公司: 深圳市智圈知识产权代理事务所(普通合伙) 44351 代理人: 吴晓青
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤海*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 转换器 集成电路 以及 电子设备
【说明书】:

实用新型实施例提供了一种模数转换器、集成电路以及电子设备,该模数转换器包括第一电容阵列、第二电容阵列;比较器以及逻辑控制电路;所述第一电容阵列包括N位电容,且由低位到高位的第P位电容至第N位电容为电容单元,其中每个所述电容单元包括固有电容以及补偿电容单元,N、P分别为正整数,且P≤N;比较器的输入端连接于所述第一电容阵列和所述第二电容阵列;逻辑控制电路连接于所述第一电容阵列、所述第二电容阵列以及所述比较器。本申请提供的模数转换器能够有效提高模数转换器的校正效率。

技术领域

本申请涉及模拟数字转换技术领域,具体涉及一种模数转换器、集成电路以及电子设备。

背景技术

逐次逼近型模数转换器(Successive Approximation Register ADC,SAR ADC)是一种采用电容翻转策略实现中等转换精度、中等采样速度的结构,并且由于SAR ADC不需要静态功耗模块的特性,使得SAR ADC在低功耗领域得到了广泛的应用。

在实际应用中,由于SAR ADC在生产制造过程存在工艺偏差,使得SAR ADC会产生误差,影响精度。传统校正SAR ADC误差的方式是通过辅助电容阵列测量并补偿主电容阵列的误差,但是由于主电容阵列的高位电容误差较大,使得辅助电容阵列需要补偿较大的值,而辅助电容阵列同样因为工艺偏差会产生误差,使得辅助电容阵列对主电容阵列补偿的值也存在较大误差,从而导致SAR ADC的校正效率低下。

实用新型内容

鉴于以上问题,本实用新型实施例提供一模数转换器、集成电路以及电子设备,以解决上述技术问题。

第一方面,本实用新型实施例提供一种模数转换器,该模数转换器包括第一电容阵列、第二电容阵列;比较器以及逻辑控制电路;所述第一电容阵列包括N位电容,且由低位到高位的第P位电容至第N位电容为电容单元,其中每个所述电容单元包括固有电容以及补偿电容单元,N、P分别为正整数,且P≤N;比较器的输入端连接于所述第一电容阵列和所述第二电容阵列;逻辑控制电路连接于所述第一电容阵列、所述第二电容阵列以及所述比较器。

第二方面,本实用新型实施例还提供一种集成电路,包括上述的模数转换器。

第三方面,本实用新型实施例还提供一种电子设备,包括设备主体以及如上述的集成电路。

本实用新型实施例提供的模数转换器、集成电路以及电子设备,该模数转换器包括第一电容阵列、第二电容阵列;比较器以及逻辑控制电路;所述第一电容阵列包括N位电容,且由低位到高位的第P位电容至第N位电容为电容单元,其中每个所述电容单元包括固有电容以及补偿电容单元,N、P分别为正整数,且P≤N;比较器的输入端连接于所述第一电容阵列和所述第二电容阵列;逻辑控制电路连接于所述第一电容阵列、所述第二电容阵列以及所述比较器。本实用新型实施例提供的模数转换器能够基于第二电容阵列和比较器的比较动作,得到第一电容阵列中每个固有电容的第一误差;然后根据每个固有电容的第一误差控制对应的补偿电容单元翻转至补偿状态;再保持补偿电容单元处于补偿状态,并基于第二电容阵列和比较器的比较动作,得到每个固有电容的第二误差;最后根据第二误差对数转换器的转换结果进行补偿。在上述过程中对S模数转换器进行两次校正,其中第一次校正是对模数转换器产生的第一误差进行第一次补偿,第二次校正是对在第一误差的补偿过程中产生的第二误差进行的第二次补偿,通过两次校正,能够有效减小第二电容阵列在校正过程中产生的误差,从而提高模数转换器的校正效率。

本申请的这些方面或其他方面在以下实施例的描述中会更加简明易懂。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本实用新型实施例提供的一种模数转换器模块框图。

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