[实用新型]一种间距尺有效
| 申请号: | 202221012298.4 | 申请日: | 2022-04-28 |
| 公开(公告)号: | CN218097579U | 公开(公告)日: | 2022-12-20 |
| 发明(设计)人: | 程鹏;程波;陈元瑞 | 申请(专利权)人: | 无锡晶名光电科技有限公司 |
| 主分类号: | G01B7/14 | 分类号: | G01B7/14 |
| 代理公司: | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人: | 郭慧 |
| 地址: | 214000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 间距 | ||
本实用新型公开了一种间距尺,属于半导体晶片加工技术领域,其包括控制块,所述控制块的数量为两个,两个控制块内均开设有控制槽,两个控制槽内均固定连接有隔板,所述隔板内卡接有传动杆,所述控制块的外表面设置有两个控制板。该间距尺,通过设置传动杆,安装块移动到适当位置后与安装槽解除限制,随后将夹持块向下拔出,使得固定块与卡槽脱离,同时安装块再次对安装槽进行卡接,该方式拉动控制板使得卡槽与安装槽解除限制,其拆卸夹持块的操作较为方便,在更换不同型号夹持块中为技术人员带来便捷的效果,有效的降低了成本,且便于技术人员对半导体晶片进行检测。
技术领域
本实用新型属于半导体晶片加工技术领域,具体为一种间距尺。
背景技术
半导体晶片是制作集成电路的原材料,最常用的是单晶硅片,集成电路是在硅片(或其他半导体材料)上通过光刻、掺杂、扩散等工艺制作出的包含有很多元件的具有一些简单或复杂功能的器件。现有的半导体晶片间距尺,通常夹持块与尺为固定连接式,由于半导体晶片的零件较小,传统的夹持块的形状为菱形,其间距、形状等外界诸多因素导致测量工作较为困难,需要更换不同型号的半导体晶片间距尺进行检测,增加了成本。
实用新型内容
(一)解决的技术问题
为了克服现有技术的上述缺陷,本实用新型提供了一种间距尺,解决了现有的半导体晶片间距尺,通常夹持块与尺为固定连接式,由于半导体晶片的零件较小,传统的夹持块的形状为菱形,其间距、形状等外界诸多因素导致测量工作较为困难,需要更换不同型号的半导体晶片间距尺进行检测,增加了成本的问题。
(二)技术方案
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种间距尺,包括控制块,所述控制块的数量为两个,两个控制块内均开设有控制槽,两个控制槽内均固定连接有隔板,所述隔板内卡接有传动杆,所述控制块的外表面设置有两个控制板,两个控制块的正面均开设有第二滑槽,所述传动杆正面的一端穿过第二滑槽与控制板的背面固定连接,所述控制槽内设置有传动板,所述传动杆的底端与传动板的上表面固定连接,所述传动板的正面开设有两个第一滑槽,两个第一滑槽内均滑动连接有安装块。
所述控制块的下表面开设有两个卡槽,所述控制块的外表面设置有两个夹持块,两个夹持块的上表面均固定连接有两个固定块,所述固定块卡接在卡槽内,所述固定块的左侧面开设有安装槽,所述安装块的右端穿过卡槽卡接在安装槽内,所述传动杆的外表面套接有弹簧,所述弹簧的顶端和底端分别与隔板的下表面和传动板的上表面固定连接,所述控制块的外表面设置有尺套。
作为本实用新型的进一步方案:所述尺套内固定连接有测量尺,所述尺套的外表面套接有电子检测器。
作为本实用新型的进一步方案:所述电子检测器的正面设置有两个控制钮,位于左侧的控制块的上表面固定连接有挡块,所述尺套的左侧面与挡块的右侧面固定连接。
作为本实用新型的进一步方案:所述电子检测器的外表面固定连接有防滑套,所述挡块和防滑套的上表面均固定连接有反向卡块。
作为本实用新型的进一步方案:所述防滑套的上表面固定连接有若干个阻力块,所述防滑套的下表面固定连接有拉动块。
作为本实用新型的进一步方案:所述第一滑槽的内壁经过打磨处理,所述安装块的形状与安装槽的形状相适配。
作为本实用新型的进一步方案:所述控制板的下表面固定连接有防滑垫,所述固定块的形状与卡槽的形状相适配。
(三)有益效果
与现有技术相比,本实用新型的有益效果在于:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡晶名光电科技有限公司,未经无锡晶名光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202221012298.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:供热管道过滤装置
- 下一篇:一种用于防护锂电池的防护设备





