[实用新型]一种新型的测外圆打光测量装置有效

专利信息
申请号: 202220975818.5 申请日: 2022-04-26
公开(公告)号: CN217604923U 公开(公告)日: 2022-10-18
发明(设计)人: 唐方勇 申请(专利权)人: 深圳市智信精密仪器股份有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京子焱知识产权代理事务所(普通合伙) 11932 代理人: 刘萍
地址: 518048 广东省深圳市龙华区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 新型 测外圆 打光 测量 装置
【说明书】:

实用新型涉及打光测量技术领域,公开了一种新型的测外圆打光测量装置,包括底座,底座上端连接的摇杆及摇杆前端安装的机械手,所述机械手的底部连接有拾取机构,且所述拾取机构的下方一侧设置有测量机构,所述拾取机构包括连接架,所述连接架的上端中部与机械手进行连接,且所述连接架的一侧上方固定安装有气缸,所述气缸的底部穿透连接架连接有取料架。通过在机械手的底部安装拾取机构,且拾取机构的底部连接有两个机加件反射面,通过机加件反射面用于固定吸盘,进行物料的吸附固定,且拾取机构的端面用CNC加工,保证拾取机构的反光效果,便于对物料打光过程中进行反光的利用,便于对物料进行正反光的测量使用。

技术领域

本实用新型涉及打光测量技术领域,具体为一种新型的测外圆打光测量装置。

背景技术

目前测量物料时,测量物料时一般正光将物料边打亮抓外圆方式测量,但是有些情况下物料边有凹凸不平时,外圆抓取有干扰,在这种情况下,设计出一种将正光反射当背光使用,适用于将物料吸附后使用正光,将正光发出的光使白色背景反光打在物料上当背光,测量基准B也是外圆,

且在装置进行打光测量过程中测量机构(5)上由于光照的原因导致专职表面温度升高且容易产生灰尘附着,影响装置对物料的拍照测量。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种新型的测外圆打光测量装置,以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种新型的测外圆打光测量装置,包括底座,底座上端连接的摇杆及摇杆前端安装的机械手,所述机械手的底部连接有拾取机构,且所述拾取机构的下方一侧设置有测量机构,所述拾取机构包括连接架,所述连接架的上端中部与机械手进行连接,且所述连接架的一侧上方固定安装有气缸,所述气缸的底部穿透连接架连接有取料架,所述取料架的底部安装有机加件反射面,所述机加件反射面的底部安装有吸盘,且所述机加件反射面的中部后侧固定安装有滑块,所述滑块的内部套接有直线导轨,所述直线导轨固定安装在连接架的前侧表面,且所述测量机构包括支撑架,所述支撑架的底部固定安装有相机,所述相机的上端安装有镜头,所述镜头的中部套接有同轴光,且所述镜头的顶端安装有光源。

可选的,所述连接架的后侧中部固定安装有喷气泵,所述喷气泵的底部倾斜并安装有喷头,所述喷气泵与机加件反射面的中部连接有通气管。

可选的,所述喷气泵的底部向机加件反射面一侧倾斜设置,且所述喷气泵的宽度值与连接架的内侧宽度值一致。

可选的,所述喷头的数量为十二个,且十二个所述喷头等间距的安装在喷气泵的底部。

可选的,所述机加件反射面的端面水平并采用CNC加工。

可选的,所述气缸、取料架、机加件反射面和光源、镜头和相机的数量均为两个,且两个所述机加件反射面之间的距离和两个光源之间的距离值一致。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:

1、该新型的测外圆打光测量装置,通过在机械手的底部安装拾取机构,且拾取机构的底部连接有两个机加件反射面,通过机加件反射面用于固定吸盘,进行物料的吸附固定,且拾取机构的端面用CNC加工,保证拾取机构的反光效果,便于对物料打光过程中进行反光的利用,便于对物料进行正反光的测量使用。

2、该新型的测外圆打光测量装置,通过在连接架的背部安装有喷气泵,且喷气泵的一侧安装有倾斜面,并在倾斜面上安装喷头,通过通气管将喷气泵与机加件反射面的上端进气端进行连接,便于对喷气泵进行供气,便于在喷气泵想喷头进行喷气的过程中对机加件反射面底端吸附连接的物料和测量机构的上表面进行驱尘,避免灰尘附着在测量机构的表面影响测量机构的检测。

附图说明

图1为本实用新型一种新型的测外圆打光测量装置的整体结构示意图;

图2为本实用新型一种新型的测外圆打光测量装置的拾取机构示意图;

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