[实用新型]一种氙灯紫外通用型辐照校准仪有效
申请号: | 202220894996.5 | 申请日: | 2022-04-18 |
公开(公告)号: | CN218067586U | 公开(公告)日: | 2022-12-16 |
发明(设计)人: | 黄宇敏;解正坤 | 申请(专利权)人: | 标格达精密仪器(广州)有限公司 |
主分类号: | G01N17/00 | 分类号: | G01N17/00;G01J1/02 |
代理公司: | 广州市华创源专利事务所有限公司 44210 | 代理人: | 汪小梅 |
地址: | 510000 广东省广州市增*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氙灯 紫外 通用型 辐照 校准 | ||
本公开提供了一种氙灯紫外通用型辐照校准仪,包括辐照校准仪主体以及若干与所述辐照校准仪主体可拆卸连接的测量不同波段的探头;所述辐照校准仪主体包括信号多级放大处理电路、A/D转换器、微控制器、显示屏,所述信号多级放大处理电路、A/D转换器、微控制器依次连接,所述微控制器与所述显示屏连接;所述探头包括自上而下设在探头主体上的余弦校正器、滤光器、传感器以及信息存储芯片,所述传感器与所述信息存储芯片连接。辐照校准仪主体采用信号多级放大处理电路,能够提高信号放大处理性能,进而提高辐照度处理准确率。
技术领域
本公开涉及测量仪器技术领域,尤其是涉及一种氙灯紫外通用型辐照校准仪。
背景技术
辐照校准仪器是一种在老化试验箱中检测光能量的装置,老化试验箱使用的光源是接近阳光光谱的氙灯,以及破坏性强的紫外UV340和UV313。目前的辐照校准仪器大多只有一级放大电路,导致检测的信号准确性有待提高。
实用新型内容
本公开提供了一种氙灯紫外通用型辐照校准仪,以解决发明人认识到的目前的辐照校准仪器大多只有一级放大电路,导致检测的信号准确性有待提高的技术问题。
本公开提供了一种氙灯紫外通用型辐照校准仪,包括辐照校准仪主体以及若干与所述辐照校准仪主体可拆卸连接的测量不同波段的探头;所述辐照校准仪主体包括信号多级放大处理电路、A/D转换器、微控制器、显示屏,所述信号多级放大处理电路、A/D转换器、微控制器依次连接,所述微控制器与所述显示屏连接;所述探头包括自上而下设在探头主体上的余弦校正器、滤光器、传感器以及信息存储芯片,所述传感器与所述信息存储芯片连接。
在上述任一技术方案中,进一步地,所述辐照校准仪主体还包括内置电源和电池管理电路,所述电池管理电路与所述内置电源连接。
在上述任一技术方案中,进一步地,所述辐照校准仪主体还设有充电接口。
在上述任一技术方案中,进一步地,所述充电接口为TPYE-C充电接口。
在上述任一技术方案中,进一步地,所述余弦校正器、滤光器、传感器的轴心对准。
在上述任一技术方案中,进一步地,所述传感器为GaN传感器。
在上述任一技术方案中,进一步地,所述显示屏为高清触摸显示屏。
在上述任一技术方案中,进一步地,所述A/D转换器通过I2C总线与所述微控制器连接。
在上述任一技术方案中,进一步地,所述信息存储芯片通过连接线与所述传感器连接。
本公开的有益效果主要在于:
1.辐照校准仪主体采用信号多级放大处理电路,能够提高信号放大处理性能,进而提高辐照度处理准确率。
2.探头采用余弦校正器,用于收集180°立体角内的光能量,从而消除其他取样装置中由于光线收集取样几何结构限制所导致的光学耦合问题。
应当理解,前述的一般描述和接下来的具体实施方式两者均是为了举例和说明的目的并且未必限制本公开。并入并构成说明书的一部分的附图示出本公开的主题。同时,说明书和附图用来解释本公开的原理。
附图说明
为了更清楚地说明本公开具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本公开的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本公开实施例提供的辐照校准仪主体的结构示意图;
图2为本公开实施例提供的探头的结构示意图;
图3为本公开实施例提供的辐照校准仪主体的电路结构示意图;
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