[实用新型]一种自带检测水氧含量的OLED器件

说明书

本实用新型公开了一种自带检测水氧含量的OLED器件，包括基板和发光区、封装区，所述基板，位于封装区设有水氧检测区，位于封装区外侧设若干个测试点的测试区；所述水样检测区，具有内设若干金属检测点的金属导电层，和内设若干Ca检测点的Ca膜层；并且一个所述金属检测点连接一个所述Ca检测点，一个所述金属检测点与一个所述测试点一一对应。本实用新型的自带检测水氧含量的OLED器件，能够有效地封装OLED器件，并且能够快速实时检测到OLED器件内部的水氧含量，以及适合对水氧含量的OLED批量检测，以精确评估水氧含量的OLED的封装寿命。

技术领域

本实用新型涉及电致发光器件技术领域，特别是涉及一种自带检测水氧含量的OLED器件。

背景技术

OLED(有机发光二极管)的基本结构是由薄而透明且具有半导体特性的铟锡氧化物(ITO)与电源正极相连，再加上另一个金属阴极组成。整个OLED基本结构层中包括了：空穴注入层(HIL)、空穴传输层(HTL)、发光层(EL)与电子传输层(ETL)、电子注入层(EIL)。当电源电压至适当电压时，正极空穴与阴极电荷就会在发光层中结合，产生光亮，依其配方不同产生红、绿和蓝三基色，构成基本色彩。

在制备完成OLED器件后，由于OLED器件对氧气和水比较敏感，长时间暴露在空气中OLED器件会很快退化甚至无法工作，所以会对OLED器件进行封装，封装完成的器件寿命会大大延长。

在量产过程中会面临一个问题：很难评估器件的封装寿命。行业通常做法是在高温高湿情况下，通过显微镜观察器件的边角上的黑点大小及多少，判断器件内部的水氧侵蚀情况，评估器件的封装寿命。

此方法有几个问题：

1.测试的器件在测试完成后基本已经失效，造成产品的浪费；

2.通过黑点的大小判断水氧侵蚀情况是经验上的判断，并不适合标准化；

3.测试的产品具有单一性，无法涵盖所有产品。

本专利所要解决的技术问题是：如何提高量产水氧含量OLED检测的有效性测试效率，以及适合对水氧含量的OLED批量检测，以精确评估水氧含量的OLED的封装寿命。

实用新型内容

为了克服上述现有技术的不足，本实用新型提供了将OLED器件封装，并且在封装区内设置与外部检测点一一对应的水氧检测点，在封装后检测的批量检测时，只需在外部检测点接通，就能够实现对封装区内部的水氧检测进行点对点一一检测的一种自带检测水氧含量的OLED器件。

本实用新型所采用的技术方案是：

一种自带检测水氧含量的OLED器件，包括基板和发光区、封装区，

所述基板，位于封装区设有水氧检测区，位于封装区外侧设若干个测试点的测试区；

所述水氧检测区，具有内设若干水氧检测点，每一个所述水氧检测点包括由金属导电层形成的金属检测点，还包括由Ca膜层形成的若干Ca检测点；

并且一个所述金属检测点连接一个所述Ca检测点，一个所述金属检测点与一个所述测试点一一对应。

进一步地，若干所述水氧检测点，数量为一个及其以上，并且结构上相互独立。

进一步地，所述水氧检测点的数量为两个或四个。

进一步地，所述水氧检测点的数量为两个及其以上时，沿基板表面均匀布置。

进一步地，所述金属检测点、测试点和Ca检测点均为金属图案化形成。

进一步地，所述金属检测点和所述测试点的厚度为100-1000nm，材料选择Ag、Al、Mg、Mo中的其中一种金属单质或者数种的合金。