[实用新型]一种阵列波导光栅芯片外观检验盒

说明书

本实用新型涉及阵列波导光栅检验，具体涉及一种阵列波导光栅芯片外观检验盒，包括固定架和安装架，安装架转动安装在固定架上，还包括放置装置；放置装置包括滑动盒、连接台、盖板、转动扭簧和限位构件，滑动盒与安装架滑动连接，并位于安装架内，连接台与安装架固定连接，并位于安装架的一侧，盖板与所连接台转动连接，并位于连接台的一侧，转动扭簧的两侧分别与盖板和连接台连接，并套设在盖板上，限位构件位于安装架的一侧，实现能够在检验到有缺陷的芯片及时将对应芯片取出，极大的提升了整个检验过程的效率。

技术领域

本实用新型涉及阵列波导光栅检验，尤其涉及一种阵列波导光栅芯片外观检验盒。

背景技术

芯片技术是当下研究热门之一，阵列波导光栅芯片作为一款用于波分复用 WDM系统中的光复用器在使用范围上已经开始渐渐扩大，但是这类芯片在进行生产制造中容易碎裂，因此需要在生产后对芯片的外观进行检验。

在以往的芯片生产检验中都是通过工人直接将芯片放在桌上，然后通过镊子等工具将芯片进行翻转完成对芯片两面的检测，在工人对芯片进行翻转时很容易对芯片的表面质量造成破坏，为了避免这种情况，现在设计出了一种用于检验芯片的检验盒，可以将芯片放置在检验盒中，然后通过翻转盒子对芯片进行检验。

但是现有的检验盒为了提高效率都是多个芯片一起进行检验，因此在进行检测时无法对放置在盒中的芯片进行准确快速的拿取，从而在检验时无法及时的将有缺陷的芯片进行去除，使得需要在将所有的芯片都检验完成后再对有缺陷的芯片进行拿取，极大的降低了整个检验的效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种阵列波导光栅芯片外观检验盒，能够在检验到有缺陷的芯片及时将对应芯片取出，极大的提升了整个检验过程的效率。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种阵列波导光栅芯片外观检验盒，包括固定架和安装架，所述安装架转动安装在所述固定架上，还包括放置装置；

所述放置装置包括滑动盒、连接台、盖板、转动扭簧和限位构件，所述滑动盒与所述安装架滑动连接，并位于所述安装架内，所述连接台与所述安装架固定连接，并位于所述安装架的一侧，所述盖板与所所述连接台转动连接，并位于所述连接台的一侧，所述转动扭簧的两侧分别与所述盖板和所述连接台连接，并套设在所述盖板上，所述限位构件位于所述安装架的一侧。

其中，所述限位构件包括挡板、连接件、转手和复位扭簧，所述挡板与所述安装架转动连接，并位于所述安装架的一侧；所述连接件与所述挡板固定连接，并位于所述挡板的一侧；所述转手与所述连接件转动连接，并位于所述连接件的一侧；所述复位扭簧的两侧分别与所述连接件和所述转手连接，所述复位扭簧套设在所述转手上。

其中，所述安装架具有滑动槽、通孔凸台和配合圆台，所述滑动槽位于所述安装架靠近所述滑动盒的一侧；所述通孔凸台位于所述安装架靠近所述挡板的一侧；所述配合圆台位于所述安装架靠近所述转手的一侧。

其中，所述盖板具有圆柱凸台，所述圆柱凸台位于所述盖板靠近所述连接台的一侧。

其中，所述转手具有套设凸台，所述套设凸台位于所述转手靠近所述连接件的一侧。

其中，所述阵列波导光栅芯片外观检验盒还包括辅助装置，所述辅助装置位于所述固定架的一侧。

其中，所述辅助装置包括提把、拉把和摇把，所述提把与所述盖板固定连接，并位于所述盖板的一侧；所述拉把与所述滑动盒固定连接，并位于所述滑动盒的一侧；所述摇把与所述固定架转动连接，并与所述安装架固定连接，且位于所述固定架的一侧。