[实用新型]一种用于晶圆测试的快速矫正治具有效

专利信息
申请号: 202220572687.6 申请日: 2022-03-16
公开(公告)号: CN216957983U 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 陆聪;高伟;钟树;陈永洪;谢刚刚;张传益;辜诗涛;卢旭坤 申请(专利权)人: 广东利扬芯片测试股份有限公司
主分类号: H01L21/68 分类号: H01L21/68;H01L21/687;H01L21/66
代理公司: 东莞创博知识产权代理事务所(普通合伙) 44803 代理人: 郭佳
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测试 快速 矫正
【权利要求书】:

1.一种用于晶圆测试的快速矫正治具,包括圆座(1),其特征在于:所述圆座(1)的内部设置有夹持机构(2),所述夹持机构(2)包括开设在圆座(1)内部的第一方形槽(21),所述第一方形槽(21)的底部固定连接有两组滑轨(22),所述滑轨(22)的外侧活动连接有T形架(23),所述圆座(1)的上端靠近T形架(23)的位置开设有第一滑槽(24),所述T形架(23)的一端固定连接有连接轴(25),所述第一方形槽(21)的中间位置设置有活动板(26),所述活动板(26)的上端固定连接有两组固定轴(27),所述固定轴(27)与连接轴(25)之间活动连接有连接杆(28),所述活动板(26)的中心位置固定连接有转动轴(29),所述转动轴(29)的外侧位置固定连接有涡轮(210),所述圆座(1)的内部靠近涡轮(210)的位置开设有安装槽(211),所述涡轮(210)一侧活动连接有蜗杆(212),所述蜗杆(212)前端固定连接有旋钮(213)。

2.根据权利要求1所述的一种用于晶圆测试的快速矫正治具,其特征在于:两组所述滑轨(22)分别位于第一方形槽(21)的两侧位置,所述T形架(23)与第一滑槽(24)相适配,所述连接轴(25)位于T形架(23)的一端靠近下侧位置。

3.根据权利要求1所述的一种用于晶圆测试的快速矫正治具,其特征在于:两组所述固定轴(27)分别位于活动板(26)的上端靠近两侧位置,所述转动轴(29)与圆座(1)为活动连接,所述涡轮(210)与蜗杆(212)相互啮合。

4.根据权利要求1所述的一种用于晶圆测试的快速矫正治具,其特征在于:所述蜗杆(212)贯穿圆座(1)的前侧内部,所述蜗杆(212)与圆座(1)为活动连接。

5.根据权利要求1所述的一种用于晶圆测试的快速矫正治具,其特征在于:所述圆座(1)的前后两侧内部分别开设有第二方形槽(3),所述第二方形槽(3)的内部设置有活动杆(4),所述活动杆(4)与第二方形槽(3)的内壁之间固定连接有弹簧(5),所述活动杆(4)的上端固定连接有弹簧(5),所述圆座(1)的上端靠近固定架(6)的位置开设有两组第二滑槽(7),所述固定架(6)的内部活动连接有活动块(8)。

6.根据权利要求5所述的一种用于晶圆测试的快速矫正治具,其特征在于:两组所述第二方形槽(3)分别位于圆座(1)的内部靠近前后两侧位置,所述活动杆(4)与第二方形槽(3)为活动连接,所述弹簧(5)的数量为三组,所述固定架(6)与两组第二滑槽(7)相适配,两组所述活动块(8)为镜面对称。

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