[实用新型]一种荧光分析仪的校准装置

说明书

本实用新型属于X射线荧光分析仪设备的技术领域，具体为一种荧光分析仪的校准装置，一种荧光分析仪的校准装置，包括检测箱，其特征在于，所述的检测箱上转动连接有调整盘，所述的调整盘上沿周向间隔开设有一个样品孔和三个校准样孔，所述的调整盘转动轴上滑动连接有调整手柄，所述的调整盘转动轴内侧壁与调整手柄间固定连接有复位弹簧，所述的检测箱上沿周向间隔开设有数组定位孔，所述的调整手柄上沿周向间隔固定连接有与定位孔对应的定位柱，所述的检测箱底部转动连接有调节手柄，所述的调节手柄转动轴上沿周向间隔固定连接有与一个样品孔和三个校准样孔对应的一个样品放置盘和三个校准放置盘，所述的检测箱内设有用于锁紧调节手柄的调节装置。

技术领域

本实用新型属于X射线荧光分析仪设备的技术领域，具体为一种荧光分析仪的校准装置。

背景技术

X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪；

X荧光多元素分析仪在校准时需将校准样组放置在样品孔内进行校准，校准完毕后需将校准样组取出然后放入待测样品，而且要依次校准分析仪测量铝、硅、 钙、铁数据，操作不便。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的是提供了一种荧光分析仪的校准装置，解决了要依次校准分析仪测量铝、硅、 钙、铁数据，操作不便的技术问题。

本实用新型采取的方案为：一种荧光分析仪的校准装置，包括检测箱，其特征在于，所述的检测箱上转动连接有调整盘，所述的调整盘上沿周向间隔开设有一个样品孔和三个校准样孔，所述的调整盘转动轴上滑动连接有调整手柄，所述的调整盘转动轴内侧壁与调整手柄间固定连接有复位弹簧，所述的检测箱上沿周向间隔开设有数组定位孔，所述的调整手柄上沿周向间隔固定连接有与定位孔对应的定位柱，所述的检测箱底部转动连接有调节手柄，所述的调节手柄转动轴上沿周向间隔固定连接有与一个样品孔和三个校准样孔对应的一个样品放置盘和三个校准放置盘，所述的检测箱内设有用于锁紧调节手柄的调节装置。

优选的，所述的调节装置包括检测箱上间隔固定连接的两组伸缩杆，两组所述的伸缩杆伸出端固定连接有与调节手柄转动轴对应的锁紧块。

优选的，所述的检测箱上间隔固定连接有四组支撑柱，四组所述的支撑柱一端固定连接有减震底座。

优选的，所述的调节调节手柄上沿周向间隔开设有数组摩擦槽。

优选的，所述的夹紧块上设有海绵块。

本实用新型的有益效果：

一、在进行调节校准X射线与三个校准样孔对应时，首先调整手柄克服复位弹簧动作，使得定位柱与定位孔脱离，此时在转动调整手柄动作，最终使得X射线穿过三个校准样孔，在松开调整手柄，在复位弹簧的作用下，使得定位柱与定位孔锁紧，在通过检测箱下端设置的调节手柄，调节一个样品放置盘和三个校准放置盘与X射线对应，在通过调节装置将调节手柄锁紧；

二、在调节手柄动作时，使得伸缩杆不与调节手柄转动轴接触，在调节完毕后，在使得伸缩杆与调节手柄接触，起到解锁和锁紧的作用；

三、在检测箱上间隔固定连接的四组支撑柱和其减震底座起到减震作用。

附图说明

图1是本实用新型的立体图视角之一。

图2是本实用新型的立体剖图视角之一。

附图标记：1、检测箱；2、调整盘；3、样品孔；4、校准样孔；5、调整手柄；6、复位弹簧；7、定位孔；8、定位柱；9、调节手柄；10、样品放置盘；11、校准放置盘；12、伸缩杆；13、锁紧块；14、支撑柱；15、减震底座；16、摩擦槽。

具体实施方式