[实用新型]一种高频芯片测试探针卡

说明书

本实用新型公开了一种高频芯片测试探针卡，涉及探针卡技术领域。本实用新型包括配装调节结构和探针卡输出结构，配装调节结构的周侧面设置有探针卡输出结构，配装调节结构用于调节探针的角度和数量，探针卡输出结构用于自动化调节探针的输出长度，配装调节结构包括搭载盘主体、推导槽、位移环和磁吸搭载块，搭载盘主体的周侧面开设有位移环，搭载盘主体的一端开设有推导槽，位移环的外侧磁吸有磁吸搭载块。本实用新型通过配装调节结构的设计，使得装置便于调节探针的搭载数量和搭载角度，大大提高了测试的引用便捷程度，且通过探针卡输出结构的设计，使得装置便于自动化调节探针的输出长度，并便于完成对探测反力进行抵消。

技术领域

本实用新型属于探针卡技术领域，特别是涉及一种高频芯片测试探针卡。

背景技术

探针卡是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，通过连接测试机和芯片，通过传输信号对芯片参数进行测试，但是现有的探针卡在应用过程中不便于调节探针的应用数量和应用角度，且不便于调节探针的下压长度，因此需要对以上问题提出一种新的解决方案。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种高频芯片测试探针卡，以解决了现有的问题：现有的探针卡在应用过程中不便于调节探针的应用数量和应用角度。

为解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

一种高频芯片测试探针卡，包括配装调节结构和探针卡输出结构，所述配装调节结构的周侧面设置有探针卡输出结构，所述配装调节结构用于调节探针的角度和数量，所述探针卡输出结构用于自动化调节探针的输出长度。

进一步地，所述配装调节结构包括搭载盘主体、推导槽、位移环和磁吸搭载块，所述搭载盘主体的周侧面开设有位移环，所述搭载盘主体的一端开设有推导槽，所述位移环的外侧磁吸有磁吸搭载块。

进一步地，所述磁吸搭载块与推导槽为间隙配合。

通过将磁吸搭载块通过推导槽上压进入位移环的内侧，利用位移环与磁吸搭载块的磁吸连接，使得磁吸搭载块与位移环连接后，需要调节角度时，推导磁吸搭载块围绕位移环转动，从而达到合适的角度，并通过推导槽推导进入对应数量的磁吸搭载块，从而使得装置便于调节探针的搭载数量和搭载角度，大大提高了测试的引用便捷程度。

进一步地，所述探针卡输出结构包括探针调节模块和探针导出模块，所述探针调节模块底端设置有探针导出模块。

进一步地，所述探针调节模块包括引导管、动力支撑杆、动力输出块、引导块、电机和主动齿轮轴，所述磁吸搭载块的一端设置有引导管，所述引导管的一端焊接有动力支撑杆，所述动力支撑杆的顶端固定连接有动力输出块，所述动力输出块远离动力支撑杆的一端固定连接有引导块，所述动力输出块的一侧通过螺钉固定连接有电机，所述电机的输出端固定连接有主动齿轮轴，所述引导块的内侧滑动连接有从动齿条柱，所述从动齿条柱的一端与主动齿轮轴啮合连接。

进一步地，所述探针导出模块包括弹簧和探针主体，所述从动齿条柱的底端固定连接有弹簧，所述弹簧的底端固定连接有探针主体，所述探针主体的顶端与从动齿条柱的底端均与引导管内侧滑动连接。

通过控制电机完成对主动齿轮轴进行转矩输出，利用主动齿轮轴与从动齿条柱的啮合连接，使得从动齿条柱在主动齿轮轴的推导下以及引导块的滑动引导下，使得从动齿条柱下压推导弹簧和探针主体同步下压直至合适位置后，使得探针主体接触到合适的探针测试位置，当产生测试反力时，利用探针主体将反力传递至弹簧，利用弹簧受力压缩产生的弹性势能，完成对受力的抵消，使得装置便于自动化调节探针的输出长度，并便于完成对探测反力进行抵消。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

(1)本实用新型通过配装调节结构的设计，使得装置便于调节探针的搭载数量和搭载角度，大大提高了测试的引用便捷程度。