[实用新型]一种光通讯器件暗箱测试装置

说明书

本实用新型涉及一种光通讯器件暗箱测试装置，包括底座、设置于底座上的测试头，所述底座和测试头之间设有暗箱组件，所述暗箱组件包括置于底座上的暗箱测试盒，暗箱测试盒的底壁上安装有测试探针座，暗箱测试盒的顶壁上设有正对测试探针座的通孔；所述暗箱测试盒的底壁下方设有测试座连接板，测试头通过通孔穿入暗箱测试盒中，与测试探针座相接触。本实用新型结构简单紧凑，制造成本低，通过增设暗箱，阻隔了外界光线，从而使光通讯器件在检测过程中，有效防止自然光对测试参数的影响。

技术领域

本实用新型涉及光通讯器件测试装置技术领域，尤其是一种光通讯器件暗箱测试装置。

背景技术

芯片测试设备是现代电子制造业后道工序中的关键装备，具有速度快、稳定性高等特点。

其中测试模块是完成芯片电性能测试的关键部件。光通讯器件在测试过程中会受到自然光的影响导致测试参数出现偏差，造成后续工序产品良率低下的问题。

实用新型内容

本申请人针对上述现有生产技术中的缺点，提供一种结构合理的光通讯器件暗箱测试装置，在现有测试机构的基础上增设暗箱，能够有效防止芯片测试过程中受光线影响而造成的偏差，从而保障产品的良品率。

本实用新型所采用的技术方案如下：

一种光通讯器件暗箱测试装置，包括底座、设置于底座上的测试头，所述底座和测试头之间设有暗箱组件，

所述暗箱组件包括置于底座上的暗箱测试盒，暗箱测试盒的底壁上安装有测试探针座，暗箱测试盒的顶壁上设有正对测试探针座的通孔；所述暗箱测试盒的底壁下方设有测试座连接板，

测试头通过通孔穿入暗箱测试盒中，与测试探针座相接触。

所述测试头包括用于吸取待检测器件的吸嘴，吸嘴上套设有阻光吸盘。

所述阻光吸盘中段位置膨大设置。

所述阻光吸盘靠近暗箱测试盒顶壁的一端直径大于通孔直径，且该端面平贴于暗箱测试盒顶壁表面。

所述测试头包括吸笔固定块、贯穿吸笔固定块的轴杆，轴杆上套设复位弹簧，轴杆向下延伸至穿过吸笔固定块的一端即连接吸嘴。

所述轴杆上还设有吸笔夹持块，吸笔夹持块安装在吸笔固定块的下方。

所述吸笔夹持块、吸笔固定块之间贯穿连接有导向轴。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型结构简单紧凑，制造成本低，通过增设暗箱，阻隔了外界光线，从而使光通讯器件在检测过程中，有效防止自然光对测试参数的影响。

本实用新型中的暗箱测试盒顶部通孔用于容纳测试头伸入，测试头上套设的阻光吸盘能够填充通孔的间隙，从而使暗箱测试盒的检测环境密封。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图。

图2为本实用新型的测试头结构示意图。

图3为本实用新型的暗箱组件结构剖视图。

图4为本实用新型的测试头和暗箱组件配合示意图。

其中：1、底座；2、测试头；3、暗箱组件；4、光通讯器件；

201、吸笔固定块；202、轴杆；203、复位弹簧；204、吸笔夹持块；205、导向轴；

301、暗箱测试盒；302、测试探针座；303、通孔；304、测试座连接板；305、吸嘴；306、阻光吸盘。

具体实施方式

下面结合附图，说明本实用新型的具体实施方式。