[实用新型]一种用于芯片测试板的防插反结构有效
| 申请号： | 202220299529.8 | 申请日： | 2022-02-15 |
| 公开（公告）号： | CN217305239U | 公开（公告）日： | 2022-08-26 |
| 发明（设计）人： | 陈宗廷;陈建光;戴洋洋 | 申请（专利权）人： | 深圳市耀星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区观*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 芯片 测试 防插反 结构 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于芯片测试板的防插反结构，包括测试板(1)，其特征在于：所述测试板(1)侧壁固定连接有安装板(2)，所述安装板(2)侧壁设有空腔(6)，所述空腔(6)内设有三个纽扣电池(7)，所述安装板(2)侧壁设有灯条(8)，所述测试板(1)侧壁嵌设有两个导电片(10)。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试板的防插反结构，其特征在于：所述测试板(1)侧壁设有多个凸起(9)，多个所述凸起(9)位于灯条(8)的同一侧。
3.根据权利要求2所述的一种用于芯片测试板的防插反结构，其特征在于：所述测试板(1)侧壁设有卡槽(4)，所述卡槽(4)侧壁设有标示贴(5)。
4.根据权利要求3所述的一种用于芯片测试板的防插反结构，其特征在于：所述测试板(1)侧壁设有点触芯片(3)，所述点触芯片(3)位于测试板(1)的边缘处。
5.根据权利要求2所述的一种用于芯片测试板的防插反结构，其特征在于：所述灯条(8)、两个导电片(10)、纽扣电池(7)通过电线电性连接。
6.根据权利要求3所述的一种用于芯片测试板的防插反结构，其特征在于：所述标示贴(5)贴合在卡槽(4)内壁。
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