[实用新型]一种芯片测试震动控制装置

说明书

本实用新型公开了一种芯片测试震动控制装置，包括震动台，所述震动台上滑动安装有矩形块，所述矩形块上固定连接有齿条板，所述震动台上转动安装有两个呈对称设置的丝杆，每个所述丝杆上均固定连接有齿轮，所述齿轮和所述齿条板啮合连接；每个所述丝杆上均螺纹连接有滑动块，每个所述滑动块上均滑动连接有安装杆，所述安装杆上固定连接有夹持块，所述夹持块上设置有夹板，所述夹持块横截面呈凹字形设置；所述震动台上设置有两个滑动组件，每个所述滑动组件均包括和所述震动台固定连接的固定块。本实用新型芯片在进行震动测试的过程中，不会发生晃动，从而使得测试的数据更加准确，有利于对芯片的抗震检测。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试震动控制装置。

背景技术

芯片是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分，芯片在生产制造的过程中需要经过很多道工序，其中就包括对芯片的震动测试工序。

目前通常利用震动控制装置对芯片进行震动检测，由于目前所使用的震动测试装置对芯片的夹持作用较差，芯片在进行震动测试的过程中，容易发生晃动，从而导致测试的数据不准确，不利于对芯片的抗震检测。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中以下缺点，由于目前所使用的震动测试装置对芯片的夹持作用较差，芯片在进行震动测试的过程中，容易发生晃动，从而导致测试的数据不准确，不利于对芯片的抗震检测，而提出的一种芯片测试震动控制装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种芯片测试震动控制装置，包括震动台，所述震动台上滑动安装有矩形块，所述矩形块上固定连接有齿条板，所述震动台上转动安装有两个呈对称设置的丝杆，每个所述丝杆上均固定连接有齿轮，所述齿轮和所述齿条板啮合连接；

每个所述丝杆上均螺纹连接有滑动块，每个所述滑动块上均滑动连接有安装杆，所述安装杆上固定连接有夹持块，所述夹持块上设置有夹板，所述夹持块横截面呈凹字形设置；

所述震动台上设置有两个滑动组件，每个所述滑动组件均包括和所述震动台固定连接的固定块，每个所述固定块上均开设有滑槽，每个所述安装杆均通过固定杆和对应的所述滑槽紧密连接。

优选的，每个所述滑槽横截面均呈直角梯形设置，所述固定杆和所述滑槽滑动连接。

优选的，每个所述滑动块上均开设有凹槽，所述凹槽通过弹簧和所述安装杆紧密连接。

优选的，每个所述夹持块上均螺纹连接有螺纹杆，所述螺纹杆和对应的所述夹板固定连接。

优选的，所述齿条板上固定连接有安装块，所述安装块通过螺栓和所述震动台紧密连接。

优选的，所述震动台上固定连接有支撑板，所述支撑板上设置有防滑纹。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

首先将芯片放在两个夹持块上，使齿条板发生移动，两个丝杆上螺纹连接的滑动块同时竖直向上移动，随着固定杆的上移，安装杆与滑动块发生相对滑动，两个夹持块相向移动，直至夹持块的表面与芯片的表面紧密接触，之后使螺栓穿过安装块并且与震动台螺纹连接，两个夹持块之间的距离更加稳定，再使螺纹杆下端的夹板与芯片紧密贴合，从而可以对芯片进行稳定的夹持，之后芯片在进行震动测试的过程中，不会发生晃动，从而使得测试的数据更加准确，有利于对芯片的抗震检测。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种芯片测试震动控制装置的正面结构示意图；

图2为本实用新型提出的一种芯片测试震动控制装置的立体结构示意图；

图3为图2中A的局部放大图。