[实用新型]一种可辅助接线的金手指测试片

说明书

本实用新型公开了一种可辅助接线的金手指测试片，包括绝缘胶体、定位安装孔、螺丝固定孔、外铍铜片、内铍铜片、内硬质合金、外硬质合金、短测试接片、短端尾部接线辅助孔、长测试接片和长端尾部接线辅助孔，在内铍铜片和外铍铜片位于绝缘胶体内部的部位连接短测试接片和长测试接片，以兼容各类测试设备的安装，上侧内铍铜片和外铍铜片的左侧末端焊接内硬质合金，下侧内铍铜片和外铍铜片的左侧末端焊接外硬质合金，内硬质合金和外硬质合金共同组成硬质合金部件，通过该部件连接外部检测产品或设备，有效提高使用寿命，且测试过程更加稳定，取消以往的单一铍铜测试，具备多组测试接口同时测试使用，有效降低成本，并缩短了操作人员更换的时间。

技术领域

本实用新型涉及金手指测试片技术领域，具体为一种可辅助接线的金手指测试片。

背景技术

金手指是电脑硬件如内存条上与内存插槽之间、显卡与显卡插槽或PCB板等部件之间的连接部位，所有的信号都是通过金手指进行输送的，金手指由众多金黄色的导电触片组成，因其表面镀金而且导电触片排列如手指状，所以称为“金手指”，在产品加工的过程中，通常采用金手指测试片对各加工产品的金手指部位进行测试，现有技术的的金手指测试片通常采用最简单的铍铜测试IC产品，且测试端采用铍铜材质，在高电流或高频率测试下铍铜耐磨性能差，导致末端安装部位脆弱，进而导致更换频率快，从而提高了成本。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种可辅助接线的金手指测试片，通过在绝缘胶体左侧设置多组内铍铜片和外铍铜片，且在内铍铜片和外铍铜片位于绝缘胶体内部的部位连接短测试接片和长测试接片，以兼容不同类型的测试设备的安装，上侧内铍铜片和外铍铜片的左侧末端焊接内硬质合金，下侧内铍铜片和外铍铜片的左侧末端焊接外硬质合金，内硬质合金和外硬质合金共同组成硬质合金部件，通过该部件连接外部检测产品或设备，有效将使用寿命提高3-4倍，且测试过程更加稳定，同时取消以往的单一铍铜测试，具备多组测试接口同时测试使用，有效降低成本，并缩短了操作人员更换的时间，可以解决现有技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种可辅助接线的金手指测试片，包括绝缘胶体、定位安装孔、螺丝固定孔、外铍铜片、内铍铜片、内硬质合金、外硬质合金、内夹头、外夹头、短测试接片、短端尾部接线辅助孔、长测试接片和长端尾部接线辅助孔，所述绝缘胶体的内部前后两端的左侧设有定位安装孔，所述绝缘胶体的内部前后两端的右侧设有螺丝固定孔，所述绝缘胶体的左侧中心处设有内铍铜片，所述绝缘胶体的左侧外部设有外铍铜片，上侧所述内铍铜片和外铍铜片的末端设有内硬质合金，所述内硬质合金的上侧设有内夹头，下侧所述内铍铜片和外铍铜片的末端设有外硬质合金，所述外硬质合金的上侧设有外夹头，所述绝缘胶体的右侧上端设有短测试接片，所述短测试接片的末端内侧设有短端尾部接线辅助孔，所述绝缘胶体的右侧下端设有长测试接片，所述长测试接片的末端内侧设有长端尾部接线辅助孔。

优选的，所述外铍铜片和内铍铜片均设有上下两组，上侧的外铍铜片和内铍铜片穿过绝缘胶体并与短测试接片连接，下侧的外铍铜片和内铍铜片穿过绝缘胶体并与长测试接片连接。

优选的，所述内硬质合金分别焊接于上侧的外铍铜片和内铍铜片末端，外硬质合金分别焊接于下侧的外铍铜片和内铍铜片末端。

优选的，所述绝缘胶体共设有三层。

优选的，所述外铍铜片、内铍铜片、短测试接片和长测试接片的厚度均为0.4mm。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：