[实用新型]一种微区X射线光谱分析系统有效
| 申请号: | 202220061909.8 | 申请日: | 2022-01-11 |
| 公开(公告)号: | CN217359672U | 公开(公告)日: | 2022-09-02 |
| 发明(设计)人: | 孙学鹏;孙天希;李成波 | 申请(专利权)人: | 北京师范大学 |
| 主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01N23/083;G01N23/2206;G01N23/223 |
| 代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 刘妮 |
| 地址: | 100875 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 射线 光谱分析 系统 | ||
1.一种微区X射线光谱分析系统,其特征在于,包括:X射线光束会聚模块、样品探测模块、计算机;
所述X射线光束会聚模块用于获得聚焦的X射线微焦斑;所述X射线微焦斑包括多色微区X射线微焦斑和单色微区X射线微焦斑;
所述样品探测模块用于探测样品被所述X射线微焦斑激发后所产生的特征信号;
所述计算机用于根据所述特征信号获得样品表面相关信息。
2.根据权利要求1所述的微区X射线光谱分析系统,其特征在于,所述X射线光束会聚模块包括能够产生多色微区X射线微焦斑的多色会聚单元;
所述多色会聚单元包括:X射线光源(1)、遮光器(2)、对称设置的两个抛物线型单毛细管准直透镜(3)、对称设置的两个抛物线型单毛细管聚焦透镜(4);
所述X射线光源(1)位于所述对称设置的两个抛物线型单毛细管准直透镜(3)前焦点处,所述遮光器(2)位于所述对称设置的两个抛物线型单毛细管准直透镜(3)的入射光或出射光处,用于阻挡直通光;
所述对称设置的两抛物线型单毛细管聚焦透镜(4)位于所述对称设置的两个抛物线型单毛细管准直透镜(3)后用于接收其出射的多色X射线束,并将其会聚为微焦斑,并照射在样品(7)表面。
3.根据权利要求1所述的微区X射线光谱分析系统,其特征在于,所述X射线光束会聚模块包括能够产生单色微区X射线微焦斑的单色会聚单元;
所述单色会聚单元包括:X射线光源(1)、遮光器(2)、对称设置的两个抛物线型单毛细管准直透镜(3)、对称设置的两个抛物线型单毛细管聚焦透镜(4)、单色器(10);
所述X射线光源(1)位于所述对称设置的两个抛物线型单毛细管准直透镜(3)前焦点处,所述遮光器(2)位于所述对称设置的两个抛物线型单毛细管准直透镜(3)的入射光或出射光处,用于阻挡直通光;
所述单色器(10)用于将所述对称设置的两个抛物线型单毛细管准直透镜(3)所出射的多色准平行光束以一定角度入射至单色器(10),并将其转变为准单色X射线束,并出射至所述对称设置的两个抛物线型单毛细管聚焦透镜(4)上;
所述对称设置的两抛物线型单毛细管聚焦透镜(4)位于所述对称设置的两个抛物线型单毛细管准直透镜(3)后,用于接收单色器(10)出射的单色X射线束,并将其会聚为微焦斑,并照射在样品(7)表面。
4.根据权利要求3所述的微区X射线光谱分析系统,其特征在于,所述单色会聚单元包括两个对称设置的所述单色器(10)。
5.根据权利要求2或3或4所述的微区X射线光谱分析系统,其特征在于,当所述遮光器(2)位于X射线光源(1)与对称设置的两个抛物线型单毛细管准直透镜(3)之间时,其直径小于对称设置的两个抛物线型单毛细管准直透镜(3)的入口直径;当置于对称设置的两个抛物线型单毛细管准直透镜(3)与对称设置的两抛物线型单毛细管聚焦透镜(4)之间时,其直径等于聚焦透镜出口直径。
6.根据权利要求2所述的微区X射线光谱分析系统,其特征在于,所述X射线光源(1)为微焦斑光管,其焦斑尺寸不大于80微米,光源焦斑形状为点状。
7.根据权利要求2所述的微区X射线光谱分析系统,其特征在于,所述抛物线型单毛细管准直透镜(3)、抛物线型单毛细管聚焦透镜(4)均采用中空玻璃管制造而成,其内部曲线为抛物线形,内壁镀有光滑的重金属薄膜,该重金属为铱,金,锇。
8.根据权利要求3或4平面晶体所述的微区X射线光谱分析系统,其特征在于,所述单色器(10)为平面晶体。
9.根据权利要求2所述的微区X射线光谱分析系统,其特征在于,所述遮光器(2)的材质为铅。
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