[发明专利]检测方法、检测装置、检测设备和计算机可读存储介质

说明书

本申请公开一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。检测方法包括获取原始图像；基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。如此，在检测时无需人工参与，只需输入原始图像，然后结合预设模型即可自动实现缺陷检测。

技术领域

本申请涉及检测技术领域，更具体而言，涉及一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。

背景技术

为了严格把控工厂生产的产品的质量，工厂在将产品生产出来后，都需要对生产出来的产品进行缺陷检测。常常采用的方法是通过人工对产品进行缺陷检测，而人工检测容易出现缺陷漏检的情况。

发明内容

本申请实施方式提供一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质，以此解决人工检测容易出现缺陷漏检的情况。

本申请实施方式的检测方法包括获取原始图像；基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。

本申请实施方式的检测装置包括第一获取模块、第二获取模块和第一确定模块。所述第一获取模块用于获取原始图像；所述第二获取模块用于基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；所述第一确定模块用于根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。

本申请实施方式的检测设备包括处理器。所述处理器用于获取原始图像；基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。

本申请实施方式的计算机可读存储介质包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行所述检测方法。所述检测方法包括获取原始图像；基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。

本申请实施方式的检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质，首先通过轮询框遍历无缺陷的预设样本图像，来获取多个模板图像，并基于多个模板图像生成预设模型，然后通过相机拍摄待测件从而获取原始图像，并通过轮询框遍历整个原始图像来得到多个待测图像，最后将可能存在缺陷的待测图像输入，以根据预设模型对待测图像进行缺陷检测，从而在检测时无需人工参与，只需输入原始图像，然后结合预设模型即可自动实现缺陷检测。

本申请的实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实施方式的实践了解到。

附图说明

本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；

图2是本申请某些实施方式的检测方法的场景示意图；

图3是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；

图4是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；

图5是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；

图6是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；