[发明专利]一种AI超微对撞机在审

专利信息
申请号: 202211719289.3 申请日: 2022-12-30
公开(公告)号: CN116056304A 公开(公告)日: 2023-05-02
发明(设计)人: 白玉锋 申请(专利权)人: 成程科技集团有限责任公司
主分类号: H05H7/00 分类号: H05H7/00;H05H3/00;H05H5/02;H05H7/22;H05H9/00;H05H11/00
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摘要:
搜索关键词: 一种 ai 撞机
【说明书】:

发明公开了超微对撞机技术领域的一种AI超微对撞机,包括加速器、对撞部和探测器,所述加速器包括电子注入器、导向磁铁、聚焦磁铁、真空室和加速电极,加速电极通过真空室连通引出器,引出器的引出端与第一指定对撞点连通,第一指定对撞点一端连接第一探测器,第一探测器的粒子冲出口分别连接二级对撞组件。本发明可连续进行一级对撞和二级对撞,通过环形加速器加速微粒对撞,通过第一探测器、第二探测器各自对一级对撞二级对撞微粒记录,通过二次拆解微粒,便于研究新微粒的产生状态。

技术领域

本发明涉及超微对撞机技术领域,具体为一种AI超微对撞机。

背景技术

对撞机是在高能同步加速器基础上发展起来的一种装置,其主要作用是积累并加速相继由前级加速器注入的两束粒子流,到一定束流强度及一定能量时使其在相向运动状态下进行对撞,以产生足够高的相互作用反应率,从而便于测量。

超微粒子是指十分之一微米以下的粒子。超微对撞机是指使超微粒子产生对撞的设备,它将各种粒子(如质子、电子等)加速到极高的能量,然后使粒子轰击一固定靶。通过研究高能粒子与靶中粒子碰撞时产生的各种反应研究其反应的性质,发现新粒子、新现象。

在此基础上,要获取超微粒子的对撞现象,需要对带电粒子进行连续拆解,基于此,本发明设计了一种AI超微对撞机,以解决上述问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种AI超微对撞机,以解决上述背景技术中提出的现有对撞机无法对微粒二次拆解的问题。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种AI超微对撞机,包括加速器、对撞部和探测器,所述加速器包括电子注入器、导向磁铁、聚焦磁铁、真空室和加速电极,加速电极通过真空室连通引出器,引出器的引出端与第一指定对撞点连通,第一指定对撞点一端连接第一探测器,第一探测器的粒子冲出口分别连接二级对撞组件。

优选的,电子注入器包括负电子注入器和正电子注入器,注入负电子注入器和正电子注入器内的正负电子均属于质心系能量250GeV的电子。

优选的,所述加速器是环形加速器,真空室呈环形真空空腔,并依次与注入器、导向磁铁和加速电极连接。

优选的,引出器包括第一引出器和第二引出器,第一引出器和负电子注入器对应,第二引出器与正电子注入器适配。

优选的,所述二级对撞组件包括第一注入器和第二注入器,第一注入器和第二注入器分别对正负电子一级对撞后的微粒进行注入。

优选的,所述第一注入器和第二注入器分别通过真空室、导向磁铁、聚焦磁铁和加速电极与二级引出器连接。

优选的,所述二级引出器包括第三引出器和第四引出器,且第一注入器与第三引出器对应,第二注入器与第四引出器对应。

优选的,所述二级引出器的引出端连接第二指定对撞点,第二指定对撞点的一端连通有第二探测器。

优选的,所述第一探测器和第二探测器均为BESIII探测器。

与现有技术相比,本发明的有益效果是:

(1)本发明可连续进行一级对撞和二级对撞,通过环形加速器加速微粒对撞,通过第一探测器、第二探测器各自对一级对撞二级对撞微粒记录,通过二次拆解微粒,便于研究新微粒的产生状态;

(2)本发明通过采用掺铊碘化铯晶体,对10亿电子伏的电子和光子能量分辨率为2.5%。同时通过采用无隔墙的晶体量能器吊挂的方式,使晶体间的物质量最小,提高了能量分辨率;

(3)本发明通过采用u子探测器,可设定的大面积阻性板,其表面覆盖密胺膜,方法简单、造价低廉,方便大规模生产。

附图说明

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