[发明专利]用于多通道打标损毁仪的电路模块以及多通道打标损毁仪

说明书

本发明医疗设备领域，具体涉及一种用于多通道打标损毁仪的电路模块以及多通道打标损毁仪，电路模块包括电源电路、光电耦合电路、高阻运算电路、放大电路、输出电路、单片机模块电路和显示电路；电源电路的升压模块连接输出电路，电源电路的降压模块分别连接到MCU和光电耦合电路，MCU分别连接到光电耦合电路和显示电路，光电耦合电路连接高阻运算电路，高阻运算电路连接放大电路，放大电路连接输出电路；所述单片机模块电路通过不同的引脚分别与电源电路、光电耦合电路、输出电路和显示电路连接；输出电路分为双通道、16通道以及32通道。本发明可以对损毁打标的时长、损毁打标的次数、损毁打标的通道数等进行自定义选定，操作更加简单。

技术领域

本发明医疗设备领域，具体涉及一种用于多通道打标损毁仪的电路模块以及多通道打标损毁仪。

背景技术

目前，为研究某个合团或脑区的具体功能或神经环路中的作用机理，需要将这个核团或脑区破坏，使之失去相应的功能。通过观察受体的行为或者受体其他生理方面相比较于破坏之前的状态做了哪些改变来判断此核团的功能。损毁的方式为给脑区单向通过量电流，予以灼伤，产生不可逆的损伤，从而破坏目标核团功能。此种损毁方式简洁有效，应用也及其广泛，但目前相关仪器只依赖进口，价格昂贵、发货周期长。不仅如此，在多通道电生理记录实验中，电极在采集完数据后，为确认电极的植入位点为实际的预定脑区，在电极取出之前，需要给电极的每个通道微量电流灼烧相应的脑区进行打标，后期经脑组织病理切片拍照确认。市面上的损毁仪只有2道，需要手动连接每个通道，操作麻烦，控制不够精准。现有的损毁仪需要外置90V电池盒和内置一个9V电池才可以工作。

发明内容

为解决以上问题，本发明提供一种用于多通道打标损毁仪的电路模块以及多通道打标损毁仪，可以对损毁打标的时长、损毁打标的次数、损毁打标的通道数等进行自定义选定，操作更加简单。

本发明是通过如下技术方案实现的：一种用于多通道打标损毁仪的电路模块，其包括电源电路、光电耦合电路、高阻运算电路、放大电路、输出电路、单片机模块电路和显示电路；电源电路的升压模块连接输出电路，电源电路的降压模块分别连接到MCU和光电耦合电路，MCU分别连接到光电耦合电路和显示电路，光电耦合电路连接高阻运算电路，高阻运算电路连接放大电路，放大电路连接输出电路；所述单片机模块电路通过不同的引脚分别与电源电路、光电耦合电路、输出电路和显示电路连接；输出电路分为双通道、16通道以及32通道。

进一步地，所述光电耦合电路中电阻R1的一端和光耦U1的3脚均连接单片机模块电路，电阻R1的另一端连接光耦U1的2脚，光耦U1的2脚和光耦U1的3脚分别连接在电容C1的两端，光耦U1的6脚与光耦U1的8脚均连接电源电路的降压模块，光耦U1的5脚分别与电阻R2的一端、电容C2的一端和高阻运算电路连接，电容C2的另一端接地，电阻R2的另一端接可调电阻R3，电阻R3的另一端接地，电阻R3滑动的一端接电阻R4，电阻R4的另一端接高阻运算电路；

所述高阻运算电路中运算放大器U2的2脚分别与电阻R5的一端、电容C3的一端、电阻R6的一端连接，电阻R5的另一端和电容C3的另一端均连接运算放大器U2的6脚，运算放大器U2的6脚和电阻R6的另一端均与放大电路连接；运算放大器U2的3脚与光电耦合电路中的电阻R4连接，运算放大器U2的7脚与光电耦合电路中的光耦U1的5脚连接；

所述放大电路中晶体管T1的1脚与电阻R7的一端连接，电阻R7的另一端与高阻运算电路中运算放大器U2的6脚连接，电阻R8的一端、晶体管T2的3脚和开关S4的1脚均与高阻运算电路中电阻R6连接；电阻R8的另一端分别与晶体管T1的3脚和晶体管T2的1脚连接，晶体管T1的2脚和晶体管T2的2脚均连接输出电路，开关S4的2脚接电阻R9的一端，电阻R9的另一端接地，开关S4的3脚接电阻R10的一端，电阻R10的另一端接地，开关S4的4脚接电阻R11的一端，电阻R11的另一端接地。