[发明专利]去马赛克的方法、计算机存储介质和电子设备在审
| 申请号: | 202211695180.0 | 申请日: | 2022-12-28 |
| 公开(公告)号: | CN115984109A | 公开(公告)日: | 2023-04-18 |
| 发明(设计)人: | 何琦;王东建;陈旭昀 | 申请(专利权)人: | 晶晨半导体(上海)股份有限公司 |
| 主分类号: | G06T3/40 | 分类号: | G06T3/40 |
| 代理公司: | 北京景闻知识产权代理有限公司 11742 | 代理人: | 李芳 |
| 地址: | 201315 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 马赛克 方法 计算机 存储 介质 电子设备 | ||
1.一种去马赛克的方法,其特征在于,包括:
获取拜耳格式图像,其中,所述拜耳格式图像包括G像素点和非G像素点,所述非G像素点包括R像素点和B像素点;
对所述拜耳格式图像中非G像素点进行G分量插值,以获得水平方向的第一非G像素点插值图像和第一G分量插值图像,以及获得垂直方向的第二非G像素点插值图像和第二G分量插值图像;
根据所述第一非G像素点插值图像和所述第一G分量插值图像通过导向滤波法获得水平方向的第一G分量滤波图像,以及,根据所述第二非G像素点插值图像和所述第二G分量插值图像通过导向滤波法获得垂直方向的第二G分量滤波图像;
根据所述第一G分量滤波图像和所述拜耳格式图像获得第一G分量残差值,以及根据所述第二G分量滤波图像和所述拜耳格式图像获得第二G分量残差值;
根据第一G分量残差值、第二G分量残差值和所述拜耳格式图像中的G像素点图像获得G通道图像;
重建R通道图像和B通道图像;
根据所述G通道图像、所述R通道图像和所述B通道图像获得去除马赛克后的彩色图像。
2.根据权利要求1所述的去马赛克的方法,其特征在于,所述G像素点包括在水平方向上与所述R像素点相邻的Gr像素点和在水平方向上与所述B像素点相邻的Gb像素点,所述第一非G像素点插值图像包括第一R像素点插值图像和第一B像素点插值图像,所述第一G分量插值图像包括第一Gr分量插值图像和第一Gb分量插值图像,所述第二非G像素点插值图像包括第二R像素点插值图像和第二B像素点插值图像,所述第二G分量插值图像包括第二Gr分量插值图像和第二Gb分量插值图像,
对所述拜耳格式图像中非G像素点进行G分量插值,以获得水平方向的第一非G像素点插值图像和第一G分量插值图像,以及获得垂直方向的第二非G像素点插值图像和第二G分量插值图像,包括:
对所述拜耳格式图像中的R像素点图像和Gr像素点图像在水平方向上分别进行卷积处理,以获得R像素点的第一Gr分量卷积图像和Gr像素点的第一R分量卷积图像;
将所述第一Gr分量卷积图像与所述R像素点图像进行组合,以获得所述第一Gr分量插值图像,以及将所述第一R分量卷积图像与所述Gr像素点图像进行组合,以获得所述第一R像素点插值图像;
对所述拜耳格式图像中的B像素点图像和Gb像素点图像在水平方向上分别进行卷积处理,以获得B像素点的第一Gb分量卷积图像和Gb像素点的第一B分量卷积图像;
将所述第一Gb分量卷积图像与所述B像素点图像进行组合,以获得所述第一Gb分量插值图像,以及将所述第一B分量卷积图像与所述Gb像素点图像进行组合,以获得所述第一B像素点插值图像;
对所述拜耳格式图像中的R像素点图像和Gb像素点图像在垂直方向上分别进行卷积处理,以获得R像素点的第二Gb分量卷积图像和Gb像素点的第二R分量卷积图像;
将所述第二Gb分量卷积图像与所述R像素点图像进行组合,以获得所述第二Gb分量插值图像,以及将所述第二R分量卷积图像与所述Gb像素点图像进行组合,以获得所述第二R像素点插值图像;
对所述拜耳格式图像中的B像素点图像和Gr像素点图像在垂直方向上分别进行卷积处理,以获得B像素点的第二Gr分量卷积图像和Gr像素点的第二B分量卷积图像;
将所述第二Gr分量卷积图像与所述B像素点图像进行组合,以获得所述第二Gr分量插值图像,以及将所述第二B分量卷积图像与所述Gr像素点图像进行组合,以获得所述第二B像素点插值图像。
3.根据权利要求2所述的去马赛克的方法,其特征在于,所述第一G分量滤波图像包括第一Gr分量滤波图像和第一Gb分量滤波图像,根据所述第一非G像素点插值图像和所述第一G分量插值图像通过导向滤波法获得水平方向的第一G分量滤波图像,包括:
将所述第一R像素点插值图像作为导向图,通过所述导向滤波法对所述第一Gr分量插值图像进行滤波处理,以获得所述第一Gr分量滤波图像;
将所述第一B像素点插值图像作为导向图,通过所述导向滤波法对所述第一Gb分量插值图像进行滤波处理,以获得所述第一Gb分量滤波图像。
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