[发明专利]一种在数据稽核中对稽核结果进行质量评价的方法及装置

权利要求书

1.一种在数据稽核中对稽核结果进行质量评价的方法，其特征在于，该方法包括：

构建稽核模型，对稽核目标表进行数据质量稽核；

判断稽核类型，针对不同的稽核类型，对本次稽核中的关键指标进行收集并计算；

使用预置的标准评分公式对本次稽核的数据质量进行打分；

使用历史评分均值修正本次评分；

针对不同的稽核类型，使用本次稽核中的关键指标进行加权校准；

根据校准后的评分，重新计算出历史评分均值，供下次稽核使用。

2.根据权利要求1所述的在数据稽核中对稽核结果进行质量评价的方法，其特征在于，针对不同的稽核类型，对本次稽核中的关键指标进行收集并计算，包括：

统计稽核目标表的总记录条数R和异常记录条数R1；

唯一性稽核时，收集各枚举值的重复次数n，计算变异系数C.V(n)；

完整性稽核时，收集各枚举值的重复次数和缺失枚举值数量，对缺失枚举值使用对应的重复次数均值进行补数，再计算变异系数C.V(R’)；

实时性稽核时，收集各条记录的实际时间与期望时间，计算均值M和均方误差E；

稳定性稽核时，收集各时段内的记录条数N与平均时延t，针对记录条数N与平均时延t分别计算对应的变异系数C.V(N)和C.V(t)。

3.根据权利要求1所述的在数据稽核中对稽核结果进行质量评价的方法，其特征在于，将历史评分均值S’与本次评分S的均值，作为修正本次评分的基准值T。

4.根据权利要求1所述的在数据稽核中对稽核结果进行质量评价的方法，其特征在于，针对不同的稽核类型，使用本次稽核中的关键指标进行加权校准，包括：

唯一性稽核时，使用本次稽核中的关键指标，对基准值T进行加权校准，校准后的评分K的公式为K＝T+(S-T)*(1-C.V(n))；

完整性稽核时，使用本次稽核中的关键指标，对基准值T进行加权校准，校准后的评分K的公式为K＝T+(S-T)*(1-C.V(R’))；

实时性稽核时，使用本次稽核中的关键指标，对基准值T进行加权校准，校准后的评分K的公式为K＝T+(S-T)*(1-E/M)；

稳定性稽核时，使用本次稽核中的关键指标，对基准值T进行加权校准，校准后的评分K的公式为K＝T+(S-T)*(1-C.V(n))*(1-C.V(t))。

5.一种在数据稽核中对稽核结果进行质量评价的装置，其特征在于，该装置包括：

建模模块，用于构建稽核模型，对稽核目标表进行数据质量稽核；

稽核指标收集及计算模块，用于判断稽核类型，针对不同的稽核类型，对本次稽核中的关键指标进行收集并计算；

稽核评分模块，用于使用预置的标准评分公式对本次稽核的数据质量进行打分；

稽核评分修正模块，用于使用历史评分均值修正本次评分；

稽核评分校准模块，用于针对不同的稽核类型，使用本次稽核中的关键指标进行加权校准；

历史评分均值重置模块，用于根据校准后的评分，重新计算出历史评分均值，供下次稽核使用。

6.根据权利要求5所述的在数据稽核中对稽核结果进行质量评价的装置，其特征在于，所述稽核指标收集及计算模块，具体用于：

统计稽核目标表的总记录条数R和异常记录条数R1；

唯一性稽核时，收集各枚举值的重复次数n，计算变异系数C.V(n)；

完整性稽核时，收集各枚举值的重复次数和缺失枚举值数量，对缺失枚举值使用对应的重复次数均值进行补数，再计算变异系数C.V(R’)；

实时性稽核时，收集各条记录的实际时间与期望时间，计算均值M和均方误差E；

稳定性稽核时，收集各时段内的记录条数N与平均时延N，针对记录条数N与平均时延N分别计算对应的变异系数C.V(N)和C.V(t)。

7.根据权利要求5所述的在数据稽核中对稽核结果进行质量评价的装置，其特征在于，将历史评分均值S’与本次评分S的均值，作为修正本次评分的基准值T。