[发明专利]照明设备、光学相机以及用于监测光源的光学输出功率的方法在审
申请号: | 202211600196.9 | 申请日: | 2022-12-13 |
公开(公告)号: | CN116321576A | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | T·图尔纳;P·弗莱尚德尔 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | H05B45/30 | 分类号: | H05B45/30;H05B45/37;H05B47/14;H01S5/042 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 李兴斌 |
地址: | 德国诺伊*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 照明设备 光学 相机 以及 用于 监测 光源 输出功率 方法 | ||
1.一种照明设备(100),包括:
光源(110);
电流路径(120),其被配置为向所述光源(110)传输供电电流;
传感器(130),其被配置为无接触地测量所述电流路径(120)中的所述供电电流的电流强度,并输出指示所测量的所述电流强度的测量信号(131);以及
处理电路装置(140),其被耦合到所述传感器(130)并且被配置为基于由所述测量信号(131)指示的所测量的所述电流强度来确定所述光源(110)的光学输出功率。
2.根据权利要求1所述的照明设备(100),其中所述传感器(130)被配置为电耦合或磁耦合到所述电流路径(120)。
3.根据权利要求1或2所述的照明设备(100),其中所述传感器(130)是磁场传感器。
4.根据权利要求3所述的照明设备(100),其中所述磁场传感器(130)被配置为使用霍尔效应和磁阻效应中的一者或多者来测量所述供电电流的所述电流强度。
5.根据权利要求3或4所述的照明设备(100),还包括与所述磁场传感器(130)间隔开的另一磁场传感器(160),其中所述另一磁场传感器(160)被配置为测量所述照明设备(100)的环境中的磁场的磁场强度并输出指示所测量的所述磁场强度的第二测量信号(161),并且其中所述处理电路装置(140)被耦合到所述磁场传感器(160)并且进一步被配置为基于由所述第二测量信号(161)指示的所测量的所述磁场强度来确定所述光源(110)的所述光学输出功率。
6.根据权利要求1或2所述的照明设备(100),其中所述传感器(130)是磁光传感器。
7.根据权利要求1或2所述的照明设备(100),其中所述传感器(130)是使用感应线圈(135)来测量所述供电电流的所述电流强度的磁耦合传感器。
8.根据权利要求7所述的照明设备(100),其中所述磁耦合传感器(130)被配置为测量由所述供电电流引起的磁场跨所述感应线圈(135)感应的电压。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的照明设备(100),还包括保持所述电流路径(120)和所述传感器(130)的载体衬底(150),其中所述电流路径(120)被布置在所述载体衬底与所述传感器(130)之间。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的照明设备(100),其中所述传感器(130)和所述处理电路装置(140)与所述电流路径(120)电隔离。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的照明设备(100),进一步包括:
光学传感器(170),其被配置为测量由所述光源(110)输出的光学功率并输出指示所测量的所述光学功率的第三测量信号(171);和/或
分流电阻器(180),其被串联耦合在所述电流路径(120)的两个区段之间,
其中所述处理电路装置(140)进一步被配置为基于由所述第三测量信号(171)指示的所测量的所述光学功率和/或所述分流电阻器(180)之上的电压降来确定所述光源(110)的所述光学输出功率。
12.根据权利要求1至11中任一项所述的照明设备(100),还包括切换电路装置,所述切换电路装置包括多个耦合晶体管,用于将所述光源(110)选择性地导通和关断,其中所述电流路径(120)是所述切换电路装置的一部分,并且其中所述传感器(130)被集成到所述切换电路装置中。
13.根据权利要求1至12中任一项所述的照明设备(100),其中所述处理电路装置(140)还被配置为基于所述光源(110)的所确定的所述光学输出功率来控制通过所述电流路径(120)的所述供电电流的所述电流强度。
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