[发明专利]基于工业传感器生产的大数据分析方法及系统有效
| 申请号: | 202211591247.6 | 申请日: | 2022-12-12 |
| 公开(公告)号: | CN115618269B | 公开(公告)日: | 2023-03-03 |
| 发明(设计)人: | 李海全;朱小和;方泽川;谭志清;谭伟健 | 申请(专利权)人: | 江门市润宇传感器科技有限公司 |
| 主分类号: | G06F18/24 | 分类号: | G06F18/24;G06N5/02;G06Q50/04 |
| 代理公司: | 广州博联知识产权代理有限公司 44663 | 代理人: | 梁志标 |
| 地址: | 529100 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 工业 传感器 生产 数据 分析 方法 系统 | ||
1.一种基于工业传感器生产的大数据分析方法,其特征在于,应用于生产分析设备,所述生产分析设备与一条及以上的工业传感器生产线的生产检测设备通信连接,所述方法包括:
获取所述生产检测设备发送的生产检测流式数据集;
将所述生产检测流式数据集加载到预设的生产检测数据分析模型,并通过所述生产检测数据分析模型对所述生产检测流式数据集进行处理,输出所述生产检测流式数据集对应的生产状态分析结果;
其中,所述生产检测数据分析模型的训练步骤包括:
获取初始生产检测数据分析模型和模拟工业传感器生产线的生产检测流式数据集模板,其中,所述生产检测流式数据集模板包括不少于一个传感器生产数据模板;
基于所述初始生产检测数据分析模型对所述生产检测流式数据集模板进行描述知识抽取,得到所述生产检测流式数据集模板对应的数据集模板描述知识和所述传感器生产数据模板对应的传感器生产数据模板描述知识;
基于所述初始生产检测数据分析模型将所述数据集模板描述知识和各个传感器生产数据模板描述知识进行交互组合,得到各个所述传感器生产数据模板对应的交互描述知识;
基于所述初始生产检测数据分析模型通过各个所述传感器生产数据模板对应的交互描述知识,获取所述各个所述传感器生产数据模板对应的数据标记可能系数;
基于所述初始生产检测数据分析模型对所述数据集模板描述知识进行生产状态预测,得到所述模拟工业传感器生产线对应的生产状态预测可能系数;
所述各个所述传感器生产数据模板对应的数据标记可能系数和所述模拟工业传感器生产线对应的生产状态预测可能系数进行代价获取,得到所述模拟工业传感器生产线对应的检测数据代价值和生产状态代价值;
通过所述检测数据代价值和所述生产状态代价值对所述初始生产检测数据分析模型进行优化,得到最终生产检测数据分析模型。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述初始生产检测数据分析模型对所述生产检测流式数据集模板进行描述知识抽取,得到所述生产检测流式数据集模板对应的数据集模板描述知识和所述传感器生产数据模板对应的传感器生产数据模板描述知识,包括:
基于所述初始生产检测数据分析模型对所述生产检测流式数据集模板的传感器生产数据模板进行聚焦型生产数据抽取,得到各个所述传感器生产数据模板对应的聚焦型生产数据;
基于所述初始生产检测数据分析模型将各个所述传感器生产数据模板对应的聚焦型生产数据转换到设定好的描述知识空间中,得到所述传感器生产数据模板在所述设定好的描述知识空间中对应的传感器生产数据模板描述知识;
基于所述初始生产检测数据分析模型对将各个所述传感器生产数据模板对应的传感器生产数据模板描述知识进行分类映射操作,得到所述生产检测流式数据集模板对应的原始数据集模板描述知识;
基于所述初始生产检测数据分析模型对所述原始数据集模板描述知识进行描述知识提取,得到所述生产检测流式数据集模板对应的数据集模板描述知识。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述初始生产检测数据分析模型对所述生产检测流式数据集模板的传感器生产数据模板进行聚焦型生产数据抽取,得到各个所述传感器生产数据模板对应的聚焦型生产数据,包括:
基于所述初始生产检测数据分析模型对所述传感器生产数据模板进行数组变换,得到所述传感器生产数据模板对应的传感器生产数据模板描述值;
基于所述初始生产检测数据分析模型中的聚焦型影响因子和所述传感器生产数据模板描述值进行预设计算,得到计算之后的传感器生产数据模板描述值;
基于所述初始生产检测数据分析模型包含的分类预测单元对所述计算之后的传感器生产数据模板描述值进行回归分析预测,得到所述各个所述传感器生产数据模板对应的聚焦型生产数据;
所述基于所述初始生产检测数据分析模型对所述原始数据集模板描述知识进行描述知识提取,得到所述生产检测流式数据集模板对应的数据集模板描述知识,包括:
基于所述初始生产检测数据分析模型对所述原始数据集模板描述知识进行平滑处理,得到平滑处理之后的描述知识;
基于所述初始生产检测数据分析模型对所述平滑处理之后的描述知识进行从加载至输出的递进,得到递进后的描述知识;
基于所述初始生产检测数据分析模型对所述递进后的描述知识进行高斯分布转换,得到所述数据集模板描述知识。
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