[发明专利]太阳能电池片追溯方法及电池片传输设备在审
| 申请号: | 202211587646.5 | 申请日: | 2022-12-07 |
| 公开(公告)号: | CN116110822A | 公开(公告)日: | 2023-05-12 |
| 发明(设计)人: | 李宗芳;张昕宇;吴君立;金井升 | 申请(专利权)人: | 晶科能源股份有限公司;浙江晶科能源有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L31/18;G06K17/00 |
| 代理公司: | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人: | 成丽杰 |
| 地址: | 334100 江西省*** | 国省代码: | 江西;36 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 太阳能电池 追溯 方法 电池 传输 设备 | ||
1.一种太阳能电池片追溯方法,其特征在于,包括:
根据当前工序的电池片上下料记录,确定在所述当前工序已上料且未下料的目标电池片;
获取所述目标电池片对应的下料花篮在后续工序中的上料记录;
在所述上料记录中包含所述目标电池片的情况下,将所述目标电池片在所述当前工序的状态变更为已下料状态。
2.根据权利要求1所述的太阳能电池片追溯方法,其特征在于,所述电池片包括标识电池片身份的电池片标记编码,所述根据当前工序的电池片上下料记录,确定在所述当前工序已上料且未下料的目标电池片,包括:
在上料过程中获取各上料电池片的所述电池片标记编码,并为各所述电池片标记编码添加已上料标记;
在下料过程中获取各下料电池片的所述电池片标记编码,并为各所述电池片标记编码添加已下料标记;
根据各所述电池片标记编码对应的标记信息,确定出包括所述已上料标记且不包含所述已下料标记的所述目标电池片。
3.根据权利要求2所述的太阳能电池片追溯方法,其特征在于,所述在上料过程中获取各上料电池片的所述电池片标记编码,包括:
获取上料花篮的第一花篮编码;
根据所述第一花篮编码,确定所述上料花篮对应的电池片标记编码集合;
根据各所述电池片的上料顺序,在所述电池片标记编码集合中确定各所述电池片的所述电池片标记编码。
4.根据权利要求2所述的太阳能电池片追溯方法,其特征在于,在所述在上料过程中获取各上料电池片的所述电池片标记编码后,还包括:
在上料过程中对各所述上料电池片的状态进行检测;
在检测到存在处于异常状态的异常电池片的情况下,为所述异常电池片对应的所述电池片编码添加异常标记,其中,所述异常状态包括破碎、卡片、堵片或人工转移。
5.根据权利要求2所述的太阳能电池片追溯方法,其特征在于,所述在下料过程中获取各下料电池片的所述电池片标记编码,包括:
获取位于下料起始点的解码器的输出信号,所述解码器用于解析所述电池片的所述电池片标记编码;
根据所述输出信号,获取各所述下料电池片的所述电池片标记编码。
6.根据权利要求5所述的太阳能电池片追溯方法,其特征在于,在所述获取各所述下料电池片的所述电池片标记编码后,还包括:
获取当前下料花篮的第二花篮编码;
在所述当前下料花篮完成电池片装载后,将所述第二花篮编码与所述当前下料花篮内的各所述下料电池片的所述电池片标记编码关联记录。
7.根据权利要求2所述的太阳能电池片追溯方法,其特征在于,在所述在下料过程中获取各下料电池片的所述电池片标记编码后,还包括:
在下料过程中对各所述下料电池片的状态进行检测;
在检测到存在处于异常状态的异常电池片的情况下,为所述异常电池片对应的所述电池片编码添加异常标记,其中,所述异常状态包括破碎、卡片、堵片或人工转移。
8.根据权利要求4或7所述的太阳能电池片追溯方法,其特征在于,所述根据各所述电池片标记编码对应的标记信息,确定出包括所述已上料标记且不包含所述已下料标记的所述目标电池片,包括:
根据各所述电池片编码对应的标记信息,确定出包括所述已上料标记且不包含所述已下料标记的候选电池片;
将不包括所述异常标记的所述候选电池片作为所述目标电池片。
9.根据权利要求1所述的太阳能电池片追溯方法,其特征在于,所述获取所述目标电池片对应的下料花篮在后续工序中的上料记录,包括:
检测所述目标电池片上料后已上料电池片数量是否达到所述当前工序的电池片容量的K倍,K大于1;
在所述已上料电池片数量达到所述当前工序的电池片容量的K倍的情况下,获取所述目标电池片对应的所述下料花篮在后续工序中的所述上料记录。
10.一种电池片传输设备,其特征在于,包括:
至少一个处理器;以及,
与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1至9中任意一项所述的太阳能电池追溯方法。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晶科能源股份有限公司;浙江晶科能源有限公司,未经晶科能源股份有限公司;浙江晶科能源有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211587646.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





