[发明专利]三维电子密度图确定装置、系统、方法以及记录介质

权利要求书

1.一种电子密度图确定装置，确定溶液中的高分子的电子密度图，其特征在于，具备：

电子密度图生成部，其从对试样进行测定而得到的实测的X射线散射分布图生成多个电子密度图；

指标算出部，其算出表示从所述多个电子密度图中的每个电子密度图算出的计算上的X射线散射分布图与所述实测的X射线散射分布图的一致度的指标；以及

电子密度图选择部，其基于所述算出的指标从所述多个电子密度图中选择代表的电子密度图。

2.根据权利要求1所述的电子密度图确定装置，其特征在于，

还具备相关判定部，所述相关判定部针对所述多个电子密度图中的每个电子密度图，创建表示相对于所述算出的指标的分子尺寸的参数的第1绘图，判定所述第1绘图的相关的有无，

所述电子密度图选择部在没有所述第1绘图的相关的情况下，不选择所述代表的电子密度图。

3.根据权利要求2所述的电子密度图确定装置，其特征在于，

还具备倾向解析部，所述倾向解析部在没有所述第1绘图的相关的情况下对所述第1绘图的分布进行多变量解析，

所述电子密度图生成部在所述第1绘图的分布有倾向的情况下改变条件生成所述多个电子密度图。

4.根据权利要求2所述的电子密度图确定装置，其特征在于，

所述相关判定部在没有所述第1绘图的相关的情况下，创建能输出的第1绘图，

所述电子密度图生成部以基于用户的指示的条件生成所述多个电子密度图。

5.根据权利要求1至权利要求4中的任意一项所述的电子密度图确定装置，其特征在于，

所述电子密度图生成部根据设定并通过重复处理逐个生成所述多个电子密度图中的每个电子密度图。

6.根据权利要求1至权利要求4中的任意一项所述的电子密度图确定装置，其特征在于，

所述电子密度图生成部根据设定并通过并行处理一次生成所述多个电子密度图中的每个电子密度图。

7.根据权利要求1至权利要求4中的任意一项所述的电子密度图确定装置，其特征在于，还具备：

理论尺寸算出部，其针对各体素尺寸，创建表示基于所述多个电子密度图算出的分子尺寸的参数的第2绘图，使用所述第2绘图算出表示所述溶液中的高分子的分子尺寸的参数的计算值；以及

实测尺寸算出部，其从所述实测的X射线散射分布图算出表示所述溶液中的高分子的分子尺寸的参数作为实测值，

如果所述计算值与实测值的差不在规定的范围内，则所述电子密度图选择部不选择所述代表的电子密度图。

8.一种电子密度图确定系统，其特征在于，具备：

X射线溶液散射装置；以及

权利要求1至权利要求4中的任意一项所述的电子密度图确定装置，

所述电子密度图确定装置基于由所述X射线溶液散射装置测定出的所述溶液中的高分子的X射线散射分布图来确定所述溶液中的高分子的电子密度图。

9.一种电子密度图确定方法，是确定溶液中的高分子的电子密度图的方法，其特征在于，包含：

从对试样进行测定而得到的实测的X射线散射分布图生成多个电子密度图的步骤；

算出表示从所述多个电子密度图中的每个电子密度图算出的计算上的X射线散射分布图与所述实测的X射线散射分布图的一致度的指标的步骤；以及

基于所述算出的指标从所述多个电子密度图中选择代表的电子密度图的步骤。

10.一种记录介质，是记录程序的计算机可读取且非暂时性的记录介质，其特征在于，

所述程序是确定溶液中的高分子的电子密度图的程序，使计算机执行如下处理：

从对试样进行测定而得到的实测的X射线散射分布图生成多个电子密度图的处理；

算出表示从所述多个电子密度图中的每个电子密度图算出的计算上的X射线散射分布图与所述实测的X射线散射分布图的一致度的指标的处理；以及

基于所述算出的指标从所述多个电子密度图中选择代表的电子密度图的处理。