[发明专利]一种被测品通道间过压导致击穿的解决方法

说明书

本发明公开了一种被测品通道间过压导致击穿的解决方法，涉及耐压测试领域，该被测品通道间过压导致击穿的解决方法包括以下步骤：步骤1：对被测设备的被测通道进行耐压测试连接；步骤2：设置测试条件，多个被测通道受控于同一触发启动信号，进行同步启动测试；步骤3：检测测试时各被测通道的交流信号相位是否一致，不一致时，实时调节；步骤4：耐压测试通过，测试结束；耐压测试不通过，报警警示，测试结束；与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明既保留多通道同步测试的高效率特点，又针对通道间电势差导致被测品的击穿损坏问题，控制通道间的电势差，完全避免通道间击穿损坏被测品和测试设备的问题。

技术领域

本发明涉及耐压测试领域，具体是一种被测品通道间过压导致击穿的解决方法。

背景技术

PCB、半导体器件等在生产制造过程中，存在对多组待测点位耐压强度的检测需求，如图1所示，测试需求为对被测品的A-a，B-b，C-c，D-d间均进行5KV耐压测试5s。

现有的测试方案有2种：方案一使用耐压测试仪按照顺序逐一轮巡测试，4组测试电压均为5KV，时间为20s；方案二使用多台耐压测试仪，同时启动测试，4组测试电压均为5KV，时间为5S。

现有方案一，测试结果可靠，对被测品无异常损伤，但是测试效率极低，严重限制现有自动化产线产能需求；现有方案二，测试效率高，对产品耐压特性设计裕量较小的产品会发生通道间“串电打火”问题（被测品通道与通道之间因电势差过高，超过被测品设计耐压强度），该问题一方面会影响测试结果准确性，另一方面通道间异常放电会对被测品造成击穿、灼烧损伤，从而造成产品损坏。

基于以上原因，需要一种能保证多通道同步测试，达到高测试效率，同时可解决通道间“异常击穿、串电打火”问题的方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种被测品通道间过压导致击穿的解决方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种被测品通道间过压导致击穿的解决方法，包括以下步骤：

步骤1：对被测设备的被测通道进行耐压测试连接；

步骤2：设置测试条件，多个被测通道受控于同一触发启动信号，进行同步启动测试；

步骤3：检测测试时各被测通道的交流信号相位是否一致，不一致时，实时调节；

步骤4：耐压测试通过，测试结束；耐压测试不通过，报警警示，测试结束。

作为本发明再进一步的方案：步骤1中：将交流耐压测试仪的四个通道的高压端分别按顺序连接至被测设备的A、B、C、D测试点，低压端分别按顺序连接至a、b、c、d测试点。

作为本发明再进一步的方案：步骤2中：设置测试条件，各个交流耐压测试通道受控于同一触发启动信号，进行同步启动输出，各个通道输出均从0°相位角开始正弦输出。

作为本发明再进一步的方案：测试条件包括测试电压、电流、时间。

作为本发明再进一步的方案：步骤3中：其他交流耐压测试通道采样监控第一个通道输出正弦交流电压信号相位，并调整自身相位同第一个通道相位一致；当其他通道出现自身相位同第一通道间相位不一致时，实时通过控制自身输入的给定信号调整自身输出相位。

作为本发明再进一步的方案：步骤4中：到达设定的耐压测试时间，主机获取测试结束信号，主机控制各个从机停止输出交流电压供给各通道，交流输出终止，测试结束。

作为本发明再进一步的方案：步骤4中：被测通道耐压未达到要求，触发测试电流报警限值，主机获取过电流报警信号，主机控制各个从机停止输出交流电压供给各通道，交流输出终止，测试结束。