[发明专利]编码图形扫描测试的校准方法与测试系统

权利要求书

1.一种编码图形扫描测试的校准方法，是利用扫描仪扫描设于电路板上的编码图形以进行扫描测试，所述电路板在所述编码图形的外围还设有光侦测器阵列，所述光侦测器阵列包含有多个光侦测器，所述编码图形扫描测试的校准方法的特征在于步骤包括：

启动所述扫描仪的光发射器以投射准星于所述电路板上；

根据感测到所述准星的多个光侦测器中的至少一个的坐标位置而计算出准星偏移位置；

根据所述准星偏移位置调整所述扫描仪，以使投射的所述准星位于所述编码图形。

2.如权利要求1所述的编码图形扫描测试的校准方法，其特征在于，

还包括获得所述扫描仪的所述准星的图形，并且在计算所述准星偏移位置的步骤中，是根据所述准星的图形并根据感测到所述准星的多个光侦测器中的至少一个的坐标位置而计算出所述准星偏移位置。

3.如权利要求2所述的编码图形扫描测试的校准方法，其特征在于，

若所述准星的图形为一圆形，根据感测到所述准星的光线的多个光侦测器中的坐标位置而获得X坐标最大值、X坐标最小值、Y坐标最大值、Y坐标最小值，并依据一算法计算出所述准星偏移位置，该算法为其中(X_gc,Y_gc)为所述准星偏移位置，X_max为所述X坐标最大值，X_min为所述X坐标最小值，Y_max为所述Y坐标最大值，Y_min为所述Y坐标最小值。

4.如权利要求2所述的编码图形扫描测试的校准方法，其特征在于，

若所述准星的图形为一个十字形，感测到所述准星的多个光侦测器区分为呈水平排列的多个第一光侦测器和呈垂直排列的多个第二光侦测器，其中，获得多个第一光侦测器的Y坐标值和多个第二光侦测器的X坐标值，并依据一算法计算出所述准星偏移位置，该算法为(X_gc,Y_gc)＝(X_i,Y_j)，其中(X_gc,Y_gc)为所述准星偏移位置，X_i为多个第二光侦测器的X坐标值，Y_j为多个第一光侦测器的Y坐标值。

5.如权利要求1所述的编码图形扫描测试的校准方法，其特征在于，

在步骤中，若多个光侦测器都没有感测到所述准星，则转动所述扫描仪，直到多个光侦测器的至少一个感测到所述准星为止。

6.一种编码图形扫描测试的测试系统，用于测试扫描仪，所述扫描仪包含有光发射器，所述编码图形扫描测试的测试系统的特征在于包含有：

滑轨；

固定座，呈可滑动地设于所述滑轨上，用于承载所述扫描仪；

电路板，架设于所述滑轨上且位于远离所述固定座的一侧，该电路板的中央设有编码图形，并且多个光侦测器设于所述编码图形的外围；以及

控制计算机，电连接所述电路板以获得一个或多个感测到光的所述光侦测器的坐标位置。

7.如权利要求6所述的编码图形扫描测试的测试系统，其特征在于，

所述固定座还设有驱动马达，所述控制计算机通过所述驱动马达来控制所述固定座靠近或远离所述电路板、或转动所述扫描仪而以不同的方向扫描所述编码图形。

8.如权利要求6或7所述的编码图形扫描测试的测试系统，其特征在于，

所述光侦测器为环境光传感器。

9.如权利要求6或7所述的编码图形扫描测试的测试系统，其特征在于，

所述编码图形为有形或无形的一个一维码，或者是有形或无形的一个二维码。

10.如权利要求6或7所述的编码图形扫描测试的测试系统，其特征在于，

所述光发射器为激光、LED或其他可见光源。