[发明专利]检测操作模式的弱点的存储器装置及其操作方法在审

专利信息
申请号: 202211519323.2 申请日: 2022-11-30
公开(公告)号: CN116343860A 公开(公告)日: 2023-06-27
发明(设计)人: 柳廷旻 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11C11/4078 分类号: G11C11/4078;G11C11/408;G11C11/406;G11C29/02
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 赵南;李竞飞
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 操作 模式 弱点 存储器 装置 及其 操作方法
【权利要求书】:

1.一种操作存储器装置的方法,所述存储器装置包括多条字线和包括N个条目的寄存器,N是等于或大于2的整数,所述方法包括:

在所述寄存器中存储关于所述多条字线中的N条字线的地址信息和激活计数信息;

基于不同于所述N条字线的第一字线的激活,将关于所述第一字线的地址信息和激活计数信息存储在所述N个条目中的从中驱逐了信息的条目中;以及

基于在第一周期中对所述寄存器执行驱逐的次数生成第一弱点信息。

2.根据权利要求1所述的方法,还包括:将所述第一弱点信息输出至存储器控制器。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述第一弱点信息被配置为控制所述存储器控制器,以改变从所述存储器控制器提供的刷新命令的接收周期。

4.根据权利要求1所述的方法,还包括:将所述第一弱点信息提供至所述存储器装置中的刷新控制器;以及

根据所述第一弱点信息控制用于所述存储器装置的刷新操作。

5.根据权利要求4所述的方法,还包括:

从所述多条字线中识别频繁激活的字线和邻近于所述频繁激活的字线的弱字线;以及

选择性地刷新所述弱字线。

6.根据权利要求1所述的方法,还包括:将在先前第一周期中计数的驱逐次数与在当前第一周期中计数的驱逐次数进行比较,

其中,生成所述第一弱点信息的步骤包括:基于在所述当前第一周期中计数的驱逐次数大于在所述先前第一周期中计数的驱逐次数,增大所述第一弱点信息的等级。

7.根据权利要求1所述的方法,还包括:基于在比所述第一周期更长的第二周期中的驱逐次数生成第二弱点信息。

8.根据权利要求7所述的方法,还包括:将所述第一弱点信息和所述第二弱点信息输出至存储器控制器。

9.根据权利要求7所述的方法,还包括:将在先前第二周期中计数的驱逐次数与在当前第二周期中计数的驱逐次数进行比较,

其中,生成所述第二弱点信息的步骤包括:基于在所述当前第二周期中计数的驱逐次数大于在所述先前第二周期中计数的驱逐次数,增大所述第二弱点信息的等级。

10.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一弱点信息指示多个等级之一,并且

其中,所述方法还包括基于所述第一弱点信息增大而延迟或跳过存储器操作。

11.一种存储器装置,包括:

包括多条字线的存储器单元阵列;

刷新控制器,其被配置为控制对所述多条字线的刷新操作;

控制逻辑电路,其被配置为在包括N个条目的寄存器中存储关于所述多条字线中的N条字线的地址信息和激活计数信息,N是等于或大于2的整数,基于与所述N条字线不同的第一字线的激活驱逐存储在所述N个条目中的至少一个条目中的信息,以及在所述至少一个条目中存储关于所述第一字线的地址信息和激活计数信息;以及

弱点检测电路,其被配置为基于在第一周期中对所述寄存器执行驱逐的次数生成第一弱点信息。

12.根据权利要求11所述的存储器装置,其中,所述第一弱点信息指示多个等级之一,并且

其中,所述弱点检测电路还被配置为基于对所述寄存器执行驱逐的次数的增加而增大所述第一弱点信息的等级。

13.根据权利要求11所述的存储器装置,其中,所述控制逻辑电路还被配置为基于对所述寄存器执行的驱逐将驱逐信息提供至所述弱点检测电路,并且

其中,所述弱点检测电路包括被配置为对在所述第一周期中提供的所述驱逐信息进行计数的计数器。

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