[发明专利]答案分析方法、装置及计算机可读存储介质

说明书

本申请公开了一种答案分析方法、装置及计算机可读存储介质，该方法包括：获取目标常识问题和对应的多个待分析答案；将目标常识问题和对应的多个待分析答案输入答案分析模型，得到多个答案中每一答案的典型性得分；筛选典型性得分对应的答案，并将筛序结果对应的答案作为目标常识问题的最终答案。通过上述方法，能够使常识问题的答案具有对应典型性，进而使最终答案更符合目标常识问题。

技术领域

本申请涉及答案分析技术领域，特别是涉及一种答案分析方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

当前，问答系统通常是检索式系统，即根据问题对所有文档或知识库进行检索，返回相关答案。

不足之处在于，在通过检索返回的相关答案缺乏典型性。

发明内容

本申请提供了答案分析方法、装置及计算机可读存储介质，能够使常识问题的答案具有对应典型性，进而使最终答案更符合目标常识问题。

本申请采用的一种技术方案是提供一种答案分析方法，该方法包括：获取目标常识问题和对应的多个待分析答案；将目标常识问题和对应的多个待分析答案输入答案分析模型，得到多个答案中每一答案的典型性得分；筛选典型性得分对应的答案，并将筛序结果对应的答案作为目标常识问题的最终答案。

其中，将目标常识问题和对应的多个待分析答案输入答案分析模型，得到多个答案中每一答案的典型性得分，包括：将目标常识问题和对应的多个待分析答案输入答案分析模型，得到目标常识问题和对应的多个待分析答案相应的隐向量；利用隐向量，得到多个答案中每一答案的典型性得分。

其中，将目标常识问题和对应的多个待分析答案输入答案分析模型，得到多个答案中每一答案的典型性得分之后，包括：利用典型性得分对应的损失值，对答案分析模型进行网络参数调整。

其中，利用典型性得分对应的损失值，对答案分析模型进行网络参数调整，包括：利用典型性得分得到第一分布；利用真实得分得到第二分布；利用第一分布和第二分布确定对应的损失值，对答案分析模型进行网络参数调整。

其中，多个待分析答案包括若干负样本答案和若干正样本答案；利用典型性得分对应的损失值，对答案分析模型进行网络参数调整，包括：利用典型性得分和真实得分确定第一损失值；利用负样本答案对应的典型性得分确定第二损失值；利用正样本答案对应的典型性得分确定第三损失值；利用第一损失值、第二损失值和第三损失值，对答案分析模型进行网络参数调整。

其中，负样本答案标注的典型性得分为0。

其中，筛选典型性得分对应的答案，并将筛序结果对应的答案作为目标常识问题的最终答案，包括：将典型性得分最高对应的答案作为待检测常识问题的最终答案。

其中，获取目标常识问题和对应的多个待分析答案，包括：获取目标常识问题；将目标常识问题输入至答案生成模型，得到目标常识问题和对应的多个待分析答案。

本申请采用的另一种技术方案是提供一种答案分析装置，该答案分析装置包括存储器和处理器，存储器用于存储程序数据，处理器用于执行程序数据以实现如上述技术方案提供的方法。

本申请采用的另一种技术方案是提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质用于存储计算机程序，计算机程序在被处理器执行时，用于实现如上述技术方案提供的方法。

本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请通过将目标常识问题和对应的多个待分析答案输入答案分析模型中进行典型性的分析，从而得到每一答案的典型性得分，并且根据典型性得分的筛序结果对应的答案作为目标常识问题的最终答案，可以使常识问题的答案具有对应典型性，进而使最终答案更符合目标常识问题。

附图说明