[发明专利]一种γ监测仪耐辐照上限实验方法

说明书

本发明公开了一种γ监测仪耐辐照上限实验方法，包括a)确定放射源及其放射剂量率；b)将所述γ监测仪置于放射源的预设放射剂量率点位置处，直至γ监测仪出现故障；c)确定γ监测仪的故障原因；d)采用屏蔽结构对监测电路模块进行屏蔽防护；e)将γ监测仪的J405计数管置于放射源的不同放射剂量率点位置，获取J405计数管的响应可信度；f)计算所述脉冲计数率的误差，若该误差在预设的误差范围内，则结束实验；否则重复步骤步骤e)。本发明通过充分且完备的定量试验，验证了γ监测仪的耐辐照上限扩展的可行性，为γ监测仪的屏蔽结构设计，提供了良好的技术支持和参考。

技术领域

本发明涉及核辐射监测技术领域，尤其涉及一种γ监测仪耐辐照上限实验方法。

背景技术

γ辐射监测技术研究领域，主要用于从环境本底监测级别到高剂量率辐射环境调查，核电站、各类核设施、机场海关和边境海关、核废物厂址、同位素医疗企事业单位等固定点监测、建筑行业及用放射源单位的执法监测、核研究部门、教育部门、核事故、核恐怖袭击及核爆炸现场使用，宽量程监测仪可实时连续地监控环境γ辐射到核恐怖事件级别的变化情况，一旦发生核恐怖袭击、核事故或者境外大规模放射性核素迁移入境等情况，γ辐射监测技术可在第一时间预警并且可以实时测量剂量率大小。

然而目前国内辐射测量设备多数采用的为J405计数管，而J405计数管的标定量程为20mGy/h～10Gy/h之间，过载负荷剂量率30Gy/h，γ监测仪的计算芯片一般也仅能承受低于10Gy/h放射剂量率的照射，才能正常工作。而近年来军队以及涉核监测上对测量量程的要求越来越高已经出现测量范围30Gy/h、50Gy/h、100Gy/h等要求，因此需要确定现有的γ监测仪的量程上限受制于哪个元器件，同时确定J405计数管是否能够满足高辐射环境的使用要求，为现有的γ监测仪的屏蔽结构设计提高技术支持和参考，以提高γ监测仪的耐辐照上限。

发明内容

针对上述现有技术的不足，本发明所要解决的技术问题是：提供一种γ监测仪耐辐照上限实验方法，解决了现有技术的γ监测仪量程范围小，耐辐照上限低，难以确定限制其上限的短板的问题。

为了解决上述技术问题，本发明采用了如下的技术方案：

一种γ监测仪耐辐照上限实验方法，包括γ监测仪和放射源，所述γ监测仪包括J405计数管和监测电路模块，包括以下步骤，

a)确定放射源及其放射剂量率；

b)将所述γ监测仪置于放射源的预设放射剂量率点位置处，使所述γ监测仪受到超过其量程的放射剂量率照射预设时间，直至γ监测仪出现故障；

c)确定γ监测仪的故障原因，若故障原因为监测电路模块引起，则进行下一步骤；

d)更换引起所述故障原因的监测电路模块，并采用屏蔽结构对监测电路模块进行屏蔽防护；

e)将γ监测仪的J405计数管置于放射源的不同放射剂量率点位置，并分别记录J405计数管在不同放射剂量率点位置处的脉冲计数率，获取J405计数管的响应可信度；其中，所述放射剂量率点位置中至少包括一个超过J405计数管标定量程的放射剂量率点位置；

f)计算所述脉冲计数率的误差，若该误差在预设的误差范围内，则结束实验；否则重复步骤步骤e)。

作为优化，所述放射源采用活度为7205Ci的60Co源，距离其90.43cm的位置处的入射剂量率为100Gy/h。

作为优化，步骤b)中，将所述γ监测仪置于放射源的30Gy/h放射剂量率点位置处。

作为优化，步骤b)中，通过γ监测仪的脉冲计数率突降至零获取γ监测仪出现故障。

作为优化，步骤d)中，所述屏蔽结构采用铅屏蔽板或钨屏蔽板，其厚度通过能够将放射源的放射剂量率衰减至监测电路模块的正常工作范围内确定。