[发明专利]一种FRA测试装置、电子设备、系统及FRA测试方法

权利要求书

1.一种FRA测试装置，其特征在于，包括：VCM驱动芯片；

所述VCM驱动芯片的输出端与待测试的VCM的输入端相连，所述VCM的输出端与所述VCM驱动芯片的输入端相连；

所述VCM驱动芯片用于，获取所述VCM驱动芯片所在的电子设备的控制器输出的正弦信号参数值，生成所述正弦信号参数值对应的正弦信号，将所述正弦信号输出至所述VCM，获取所述VCM的输出信号，根据所述正弦信号和所述输出信号，进行幅频特性计算和相频特性计算，以确定所述VCM的频率响应特性。

2.根据权利要求1所述的FRA测试装置，其特征在于，所述VCM驱动芯片包括数模转换电路、模数转换电路和数字信号处理器；

所述数模转换电路的输入端与所述数字信号处理器的输出端连接，所述数模转换电路的输出端与所述VCM的输入端相连；

所述模数转换电路的输入端与所述VCM的输出端连接，所述模数转换电路的输出端与所述数字信号处理器的输入端连接；

所述数字信号处理器用于获取所述VCM驱动芯片所在的电子设备的控制器输出的正弦信号参数值，生成所述正弦信号参数值对应的正弦信号，通过所述数模转换电路将所述正弦信号输出至所述VCM，通过所述模数转换电路获取所述VCM的输出信号，根据所述正弦信号和所述输出信号，进行幅频特性计算和相频特性计算，以确定所述VCM的频率响应特性。

3.根据权利要求1所述的FRA测试装置，其特征在于，所述VCM驱动芯片用于生成所述正弦信号参数值对应的正弦信号，将所述正弦信号输出至所述VCM时，具体用于：

基于所述正弦信号参数值中的频率，确定所述VCM驱动芯片中的定时器在一个信号周期内的最大中断次数；

在所述最大中断次数内，基于所述定时器的实际中断次数和所述正弦信号参数值中的幅度，计算每次中断时的正弦信号幅度值；

将所述正弦信号幅度值转换为电流值，并输出至所述VCM，以将所述正弦信号参数值对应的正弦信号输出至所述VCM。

4.根据权利要求1所述的FRA测试装置，其特征在于，所述VCM驱动芯片用于根据所述正弦信号和所述输出信号，进行幅频特性计算和相频特性计算，以确定所述VCM的频率响应特性时，具体用于：

对所述正弦信号和所述输出信号进行幅频特性计算，得到幅频特性；

对所述正弦信号和所述输出信号进行相频特性计算，得到所述输出信号与所述正弦信号的相位差；

基于所述幅频特性和所述相位差，构建所述VCM的频率响应特性曲线。

5.根据权利要求4所述的FRA测试装置，其特征在于，所述VCM驱动芯片用于对所述正弦信号和所述输出信号进行幅频特性计算，得到幅频特性时，具体用于：

从对所述VCM输入的正弦信号的起始点开始，确定所述输出信号的一个信号周期内的最大值和最小值；

基于所述最大值和所述最小值，计算所述输出信号的峰峰值；

根据所述峰峰值和所述正弦信号参数值中的幅度，计算得到幅频特性。

6.根据权利要求4所述的FRA测试装置，其特征在于，所述VCM驱动芯片用于对所述正弦信号和所述输出信号进行相频特性计算，得到所述输出信号与所述正弦信号的相位差时，具体用于：

确定所述正弦信号的过零点和所述输出信号的过零点；

计算所述正弦信号的过零点和所述输出信号的过零点的时间差；

基于所述时间差，计算所述输出信号与所述正弦信号的相位差。

7.根据权利要求6所述的FRA测试装置，其特征在于，所述VCM驱动芯片用于确定所述正弦信号的过零点和所述输出信号的过零点时，具体用于：

确定使所述正弦信号的信号值为零的过零点；

从所述过零点开始，确定所述输出信号的信号值从负到正的信号点，并作为所述输出信号的过零点。

8.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求1-7任一项所述的FRA测试装置，所述电子设备还包括控制器；

所述控制器用于，获取用户输入的正弦信号参数值，并将所述正弦信号参数值发送至所述VCM驱动芯片。