[发明专利]一种散热系统及方法在审

专利信息
申请号: 202211463432.7 申请日: 2022-11-21
公开(公告)号: CN115734577A 公开(公告)日: 2023-03-03
发明(设计)人: 周静;郝改萍;周慧;刘树凯;田楠;吕延军;刘俊涛 申请(专利权)人: 北京航天测控技术有限公司
主分类号: H05K7/20 分类号: H05K7/20
代理公司: 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 代理人: 卢万腾
地址: 100041 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 散热 系统 方法
【说明书】:

发明实施例涉及一种散热系统及方法,该系统包括:温度检测单元,用于检测冷却液的温度生成温度信号,将温度信号发送至信号控制单元;流量控制单元,用于控制冷却液的流量,生成流量信号,将流量信号发送至信号控制单元;热负载单元,用于接收冷却液进行热交换,生成热交换信号发送至信号控制单元;信号控制单元,用于调理温度信号、流量信号和热交换信号,后发送至主控单元;主控单元,用于根据调理后的温度信号、流量信号和热交换信号生成液冷单元的散热参数,根据散热参数控制热负载单元中的电阻的阻值,以使热负载单元进行散热。由此可以实现准确测量液冷装置的散热参数,精确评估液冷装置的散热性能,以实现最佳散热效果。

技术领域

本发明实施例涉及液冷散热技术领域,尤其涉及一种散热系统及方法。

背景技术

随着电子技术的快速发展,芯片的功耗及热流密度越来越大,传统的风冷散热方式已经无法保证这些大功率芯片的正常可靠地工作,而液冷散热与风冷散热相比,具有散热效率高,集成度高,噪声低等优势,因此成为解决大功耗芯片散热的理想途径,在大功率、高热流密度的电子设备中得到广泛应用。

目前,电子设备液冷装置散热性能的测量评估的方法和手段主要是依靠对主要芯片结温进行测试,判断液冷装置散热效果是否满足使用要求,然而,这种测试方法存在取样点少,测试数据不详尽,自动化程度低等问题,且由于芯片功耗、液冷参数等条件参数不明确,现有的液冷装置在散热过程中无法得出液冷装置准确的散热特性及参数。

发明内容

鉴于此,为解决上述无法得出液冷装置准确的散热特性及参数的技术问题,本发明实施例提供一种散热系统及方法。

第一方面,本发明实施例提供一种散热系统,包括:液冷单元、温度检测单元、流量控制单元、热负载单元、信号控制单元、主控单元;

所述温度检测单元,用于检测所述液冷单元中冷却液的温度并生成温度信号,以及将所述温度信号发送至所述信号控制单元;

所述流量控制单元,用于控制所述冷却液的流量,以及获取所述冷却液的流量生成流量信号,将所述流量信号发送至所述信号控制单元;

所述热负载单元,用于接收所述流量控制单元发送的冷却液,以及基于所述冷却液进行热交换,生成热交换信号发送至所述信号控制单元;

所述信号控制单元,用于调理所述温度信号、所述流量信号和所述热交换信号,并将调理后的所述冷却液的温度信号、所述流量信号和所述热交换信号发送至所述主控单元;

所述主控单元,用于根据调理后的所述温度信号、所述流量信号和所述热交换信号生成所述液冷单元的散热参数,根据所述散热参数控制所述热负载单元中的电阻的阻值,以使所述热负载单元进行散热。

在一个可能的实施方式中,所述温度检测单元包括:第一检测模块和第二检测模块;

所述第一检测模块设置所述液冷单元的出液口,用于检测所述液冷单元中冷却液的出液温度;

所述第二检测模块设置所述液冷单元的回液口,用于检测所述液冷单元中冷却液的回液温度。

在一个可能的实施方式中,所述系统还包括:分液单元,用于将所述液冷单元的冷却液通过多条支路发送至所述流量控制单元。

在一个可能的实施方式中,所述流量控制单元包括:流量控制阀和流量计;

所述流量计,用于针对每条所述支路中的冷却液,获取所述冷却液的流量并生成流量信号;

所述流量控制阀,用于接收所述主控单元发送的控制指令,基于所述控制指令调整每条所述支路中的冷却液的流量。

在一个可能的实施方式中,所述热负载单元中包括多个热负载模块,每个所述热负载模块对应一条支路;

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