[发明专利]一种卷径的测量方法、装置、系统及计算机介质在审
| 申请号: | 202211459154.8 | 申请日: | 2022-11-17 |
| 公开(公告)号: | CN115818360A | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
| 发明(设计)人: | 陈昊真;张俊峰;张锦亮;曹元坤;夏光荣;倪军 | 申请(专利权)人: | 安脉时代智能制造(宁德)有限公司 |
| 主分类号: | B65H63/08 | 分类号: | B65H63/08 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 梁笑 |
| 地址: | 352100 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 测量方法 装置 系统 计算机 介质 | ||
1.一种卷径的测量方法,其特征在于,该方法包括:
在卷绕机中的电机转动预设角度间隔值时,获取当前时刻所述卷绕机中编码器检测到的走带的第一走带总长度;
根据所述第一走带总长度与所述走带的预设厚度,确定所述卷绕机的当前时刻的预测卷径值;
根据所述第一走带总长度与上一时刻所述编码器检测到的所述走带的第二走带总长度,确定当前时刻的走带差值;
根据所述走带差值与所述预设角度间隔值,确定所述卷绕机的当前时刻的实时卷径值;
根据所述预测卷径值与所述实时卷径值,确定所述卷绕机的当前时刻的当前卷径值。
2.如权利要求1所述的卷径的测量方法,其特征在于,根据所述第一走带总长度与所述走带的预设厚度,确定所述卷绕机的预测卷径值,包括:
将所述第一走带总长度及所述走带的预设厚度输入预设卷径值预测模型,确定所述卷绕机的预测卷径值;
所述预设卷径值预测模型为:
Rth(t)为所述卷绕机当前时刻t的预测卷径值;
Ro为所述卷绕机初始时刻的初始半径;
tw为所述走带的预设厚度;
为当前时刻t的所述第一走带总长度。
3.如权利要求1所述的卷径的测量方法,其特征在于,根据所述走带差值与所述预设角度间隔值,确定所述卷绕机的当前时刻的实时卷径值之后,还包括:
对所述实时卷径值做超前滞后滤波处理,确定当前时刻的实时卷径值。
4.如权利要求1所述的卷径的测量方法,其特征在于,根据所述预测卷径值与所述实时卷径值,确定所述卷绕机的当前时刻的当前卷径值之后,还包括:
判断所述当前时刻的当前卷径值是否小于上一时刻得到的当前卷径值;
若是,则将上一时刻得到的当前卷径值作为当前时刻的当前卷径值;
若否,则保持所述当前时刻的当前卷径值不变。
5.如权利要求1所述的卷径的测量方法,其特征在于,根据所述预测卷径值与所述实时卷径值,确定所述卷绕机的当前时刻的当前卷径值之后,还包括:
根据所述当前时刻的当前卷径值控制所述电机的转速,以控制所述走带的速度。
6.如权利要求1至5任一项所述的卷径的测量方法,其特征在于,根据所述预测卷径值与所述实时卷径值,确定所述卷绕机的当前时刻的当前卷径值,包括:
根据所述预测卷径值与所述实时卷径值及预设的卷径权值,确定所述卷绕机的当前时刻的当前卷径值;
所述当前卷径值为:
R=αRth(t)+(1-α)Rme(t)
α为所述卷径权值,取值范围为0-1;
Rth(t)为所述卷绕机当前时刻t的预测卷径值;
Rme(t)为所述卷绕机当前时刻t的实时卷径值。
7.如权利要求6所述的卷径的测量方法,其特征在于,根据所述预测卷径值与所述实时卷径值及预设的卷径权值,确定所述卷绕机的当前时刻的当前卷径值之前,还包括:
根据接收到的用户指令确定所述卷径权值。
8.一种卷径的测量装置,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序实现如权利要求1至7任一项所述的卷径的测量方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的卷径的测量方法的步骤。
10.一种卷绕机,其特征在于,包括:电机、编码器及实现如权利要求1至7任一项所述的卷径的测量方法的卷径的测量装置;
所述卷径的测量装置分别与所述电机及所述编码器连接。
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