[发明专利]一种由单极子阵列天线构成的混响室射频测试系统

说明书

本发明公开一种由单极子阵列天线构成的混响室射频测试系统，包括：箱体、设置在所述箱体内的单极子阵列单元、与所述单极子阵列单元电连接的射频开关；所述单极子阵列单元包括：若干垂直极化单极子天线、若干水平极化单极子天线，所述的若干个垂直极化单极子天线与所述的若干个水平极化单极子天线交替设置于所述箱体的内壁上；所述射频开关上设置有若干第一输入输出通道和若干第二输入输出通道，所述单极子阵列单元通过所述第一输入输出通道与所述射频开关连接。本发明可独立激励不同位置的垂直极化单极子天线和/或水平极化单极子天线，在改变激励方式时均会提供更多的混响测试模式，提高混响测试的精度，保证测试效果更好。

技术领域

本发明涉及射频测试设备领域，尤其涉及一种由单极子阵列天线构成的混响室射频测试系统。

背景技术

与通信产品相关的各种基础设施如基站、天线阵列、智能家居、手机、手环、等产品，都需要经过严格的电磁通信测试。电磁通讯测试装置有微波暗室和混响室两种；其中，微波暗室是模拟电磁波在自由空间内传播，而被测产品设置在电磁波的传播方向上，被测产品通过自身天线感应电磁场来完成测试，测试过程中无环境的反射电磁波对测试的影响，因此，微波暗室是由屏蔽壳体(其壳体上贴上满足测试的角锥吸波材料)、转台、测量天线等构成；混响室可模拟现实环境各种无线通信信道，产品测试时是处于一个复杂的测试环境中，现实的环境也是一个处于各种电磁信号传播的环境，因此混响室内就会有各种电磁波反射，这样混响室可由一个金属壳体及配套的搅拌器和测量天线等构成，此外，壳体上不需要贴吸波材料，且壳体内表面对电磁波要具有极高的反射性，减少电磁波在金属壁上的损耗。

微波暗室有比较干净的电磁波测试环境，现实中的环境，或多或少都会有其他电磁波对被测产品的影响，因此适合研究产品本身的天线性能，因此微波暗室一般适用于研发测试，且通常是单个产品测试，不适合产品批量生产；一般生产线上通过模拟微波暗室的OTA测试，所谓的耦合测试，存在寻找和调整被测产品的测试位置等问题，不利于生产测试及数据分析。混响室普遍采用机械搅拌的方式，机械搅拌器的搅拌叶片是异形的，增加加工难度，并且搅拌器一般尺寸比较大，同时也需要配备转台等设备，这样既需要比较大混响室的腔体，又需要控制机械搅拌的运行状态，这样无疑是增加混响的测试成本。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术的不足，提供一种由单极子阵列天线构成的混响室射频测试系统，混响室内需要设置机械搅拌装置，导致混响室体积较大，测试难度大、成本高的问题。

本发明的技术方案如下：一种由单极子阵列天线构成的混响室射频测试系统，包括：箱体、设置在所述箱体内的单极子阵列单元、与所述单极子阵列单元电连接的射频开关；所述单极子阵列单元包括：若干垂直极化单极子天线、若干水平极化单极子天线，所述的若干个垂直极化单极子天线与所述的若干个水平极化单极子天线交替设置于所述箱体的内壁上；所述射频开关上设置有若干第一输入输出通道和若干第二输入输出通道，所述单极子阵列单元通过所述第一输入输出通道与所述射频开关连接。

优选地，所述垂直极化单极子天线包括：与所述箱体内壁连接的绝缘支架、安装在所述绝缘支架上的金属辐射片、与所述金属辐射片连接的射频连接器。

优选地，所述射频连接器贯穿所述箱体的内壁，且与所述第一输入输出通道连接；所述水平极化单极子天线的结构与所述垂直极化单极子天线的结构相同。

优选地，所述垂直极化单极子天线、水平极化单极子天线的工作频率为0.6GHz～8GHz。

优选地，所述金属辐射片为圆盘状，且所述金属辐射片的直径大于垂直极化单极子天线的最低工作频率对应的波长的四分之一。

优选地，所述垂直极化单极子天线的金属辐射片与其相邻的水平极化单极子天线的金属辐射片的中心间距为垂直极化单极子天线的最低工作频率对应的波长的四分之一。