[发明专利]基于时频谱信号增强的磁粒子分布模型重建方法和系统有效
申请号: | 202211442910.6 | 申请日: | 2022-11-18 |
公开(公告)号: | CN115640506B | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 田捷;卫泽琛;惠辉;杨鑫;彭慧玲 | 申请(专利权)人: | 中国科学院自动化研究所 |
主分类号: | G06F18/10 | 分类号: | G06F18/10;G06F18/213;G06F18/25;G06N3/0464;G06N3/048;G06N3/08;G06F17/14 |
代理公司: | 北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙) 11576 | 代理人: | 郭文浩;尹文会 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 频谱 信号 增强 粒子 分布 模型 重建 方法 系统 | ||
本发明属于磁粒子成像领域,具体涉及了一种基于时频谱信号增强的磁粒子分布模型重建方法和系统,旨在解决现有的磁粒子成像技术无法同时高效的去除谐波干扰和高斯噪声等背景噪声,以至重建的磁粒子分布模型精度不足的问题。本发明包括:通过磁粒子成像设备扫描获得待测目标的一维时域信号,分段傅里叶变换获得时频谱,通过融合自我注意力机制的深度神经网络获得去噪时频谱得到高质量磁粒子时域信号;再进行磁粒子分布模型重建。本发明通过融入自我注意力机制的深度神经网络学习时频谱中的全局信息与局部信息,从而学习倍频间的关系以区分信号中的有效粒子信号和噪声信号,通过融合局部和全局信息完成对时频谱的去噪,获得高质量磁粒子时域信号。
技术领域
本发明属于磁粒子成像领域,具体涉及了一种基于时频谱信号增强的磁粒子分布模型重建方法和系统。
背景技术
在临床诊断和检测中,如何准确、客观的定位肿瘤及其他病灶一直是国际上的研究热点和挑战性问题。现有的医学影像技术如CT,MRI,SPECT等方法均存在危害大,定位差,精度低等问题。而在近些年,一种全新的基于示踪剂的成像方式——磁粒子成像(MPI)技术被提出。利用断层成像技术,MPI可以通过检测对人体无害的超顺磁氧化铁纳米颗粒(SPIONs)的空间浓度分布,对肿瘤或目标物进行精准定位,具有三维成像、高时空分辨率和高灵敏度的特点。此外,MPI不显示解剖结构并且无背景信号干扰,因此信号的强度与示踪剂的浓度直接成正比,是一种颇具医学应用潜力的新方法。
现今的MPI技术还处于发展阶段,硬件系统还在不断的改进升级。背景信号是MPI领域不可忽视的一个问题,背景信号会导致重建图像中出现伪影,对重建图像的精度产生了极大的影响,其中背景信号主要包括谐波干扰和高斯噪声两大类。一些硬件升级和基于信号处理的改进方法被提出用于去除背景噪声信号,但是硬件上的改进方法对系统本身要求较高,同时操作难度较大;基于信号处理的改进方法中,与系统矩阵相关的算法时间成本较高,与X-space相关的则大多不够鲁棒,不能高效的去除这两种噪声。因此在磁粒子成像领域,一种能对不同背景噪声进行高效的去除,同时不提升硬件复杂度和时间成本的方法是急需的。
发明内容
为了解决现有技术中的上述问题,即现有的磁粒子成像技术中无法高效的去除谐波干扰和高斯噪声等背景噪声,以至于重建的模型精度不足的问题,本发明提供了一种基于时频谱信号增强的磁粒子分布模型重建方法,所述方法包括:
步骤S100,通过磁粒子成像设备扫描待测目标得到待测目标的一维时域信号;其中,待测目标包括待测仿体或生物样本;
步骤S200,将所述待测目标的一维时域信号进行分段傅里叶变换,获得二维时频谱;
步骤S300,基于所述二维时频谱,通过训练好的融合自我注意力机制的深度神经网络获得去噪后的磁粒子时频谱信号,进而通过逆傅里叶变换得到高质量磁粒子时域信号;
步骤S400,基于所述高质量磁粒子时域信号进行区域模型重建,获得高精度区域重建模型;
所述融合自我注意力机制的深度神经网络,包括特征提取模块、联合去噪模块、时域-频域去噪模块和特征重建模块;其中特征提取模块将提取的一级特征图传输至联合去噪模块与时域-频域去噪模块,联合去噪模块基于一级特征图提取全局空间特征获得联合去噪特征图,时域频域去噪模块分别从一级特征图的时域维度和频域维度提取时频谱的局部特征并融合为时域-频域去噪特征图,联合去噪特征图和时域-频域去噪特征图进行特征连接获得特征连接信息,将特征连接信息通过特征重建模块进行重建,获得无噪时频谱。
在一些优选的实施方式中,所述特征提取模块,其具体结构包括:
特征提取模块输入端、多尺度特征分析单元、第一特征连接单元、第一特征融合卷积层和特征提取模块输出端;
其中所述多尺度特征分析单元包括由特征提取模块输入端连接并行的第一支路、第二支路和第三支路;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院自动化研究所,未经中国科学院自动化研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211442910.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种应用于岸坡水位变化的造波装置及造波方法
- 下一篇:一种铭牌加工用打孔机