[发明专利]DOE质量检测方法、系统、电子设备和存储介质在审
| 申请号: | 202211429482.3 | 申请日: | 2022-11-15 |
| 公开(公告)号: | CN115760750A | 公开(公告)日: | 2023-03-07 |
| 发明(设计)人: | 刘祺昌;李东洋;化雪诚;王海彬;户磊 | 申请(专利权)人: | 北京的卢铭视科技有限公司;合肥的卢深视科技有限公司 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/60 |
| 代理公司: | 北京智晨知识产权代理有限公司 11584 | 代理人: | 张婧 |
| 地址: | 100083 北京市海淀区学清路*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | doe 质量 检测 方法 系统 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种DOE质量检测方法,其特征在于,包括:
分别在获取到的散斑图的各级次的衍射区域中选取若干个基准点,并分别根据所述各级次的衍射区域中的基准点,确定所述各级次的衍射区域的倾斜程度信息;其中,所述散斑图为基于待测相机获取的散斑图;
根据所述各级次的衍射区域的倾斜程度信息,确定所述散斑图的倾斜程度信息;
在所述散斑图的倾斜程度信息不满足预设标准的情况下,确定所述待测相机的衍射光学元件DOE质量不合格。
2.根据权利要求1所述的DOE质量检测方法,其特征在于,所述各级次的衍射区域的倾斜程度信息包括所述各级次的衍射区域的x轴方向夹角和y轴方向夹角,所述散斑图的倾斜程度信息包括所述散斑图的行方向上的级次间夹角和列方向上的级次间夹角;
所述根据所述各级次的衍射区域的倾斜程度信息,确定所述散斑图的倾斜程度信息,包括:
根据各行的各衍射区域的x轴方向夹角和y轴方向夹角,确定所述散斑图的行方向上的级次间夹角;
根据各列的各衍射区域的x轴方向夹角和y轴方向夹角,确定所述散斑图的列方向上的级次间夹角;
所述在所述散斑图的倾斜程度信息不满足预设标准的情况下,确定所述待测相机的衍射光学元件DOE质量不合格,具体为:
在所述行方向上的级次间夹角不满足第一预设标准,或所述列方向上的级次间夹角不满足第二预设标准的情况下,确定所述待测相机的衍射光学元件DOE质量不合格。
3.根据权利要求2所述的DOE质量检测方法,其特征在于,所述行方向上的级次间夹角包括行方向上的x轴级次间夹角和行方向上的y轴级次间夹角,所述根据各行的各衍射区域的x轴方向夹角和y轴方向夹角,确定所述散斑图的行方向上的级次间夹角,包括:
逐行遍历所述各行的各衍射区域,依次将所述各行的各衍射区域作为第一目标区域;
计算所述第一目标区域的x轴方向夹角与左方相邻的衍射区域的x轴方向夹角之间的第一绝对差,并计算所述第一目标区域的y轴方向夹角与所述左方相邻的衍射区域的y轴方向夹角之间的第二绝对差;
分别计算所述各行的所述第一绝对差之和,以及所述各行的所述第二绝对差之和;
将所述各行中最大的所述第一绝对差之和作为所述行方向上的x轴级次间夹角,并将所述各行中最大的所述第二绝对差之和作为所述行方向上的y轴级次间夹角。
4.根据权利要求2所述的DOE质量检测方法,其特征在于,所述列方向上的级次间夹角包括列方向上的x轴级次间夹角和列方向上的y轴级次间夹角,所述根据各列的各衍射区域的x轴方向夹角和y轴方向夹角,确定所述散斑图的列方向上的级次间夹角,包括:
逐列遍历所述各列的各衍射区域,依次将所述各列的各衍射区域作为第二目标区域;
计算所述第二目标区域的x轴方向夹角与上方相邻的衍射区域的x轴方向夹角之间的第三绝对差,并计算所述第二目标区域的y轴方向夹角与所述上方相邻的衍射区域的y轴方向夹角之间的第四绝对差;
分别计算所述各列的所述第三绝对差之和,以及所述各列的所述第四绝对差之和;
将所述各列中最大的所述第三绝对差之和作为所述列方向上的x轴级次间夹角,并将所述各列中最大的所述第四绝对差之和作为所述列方向上的y轴级次间夹角。
5.根据权利要求4所述的DOE质量检测方法,其特征在于,所述第一预设标准包括第一预设阈值和第二预设阈值,所述第二预设标准包括第三预设阈值和第四预设阈值,所述在所述行方向上的级次间夹角不满足第一预设标准,或所述列方向上的级次间夹角不满足第二预设标准的情况下,确定所述待测相机的DOE质量不合格,通过以下公式表示:
其中,a为所述行方向上的x轴级次间夹角,b为所述行方向上的y轴级次间夹角,c为所述列方向上的x轴级次间夹角,d为所述列方向上的y轴级次间夹角,T1为所述第一预设阈值,T2为所述第二预设阈值,T3为所述第三预设阈值,T4为所述第四预设阈值,Q=0表示所述DOE质量合格,Q=1表示所述DOE质量不合格。
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