[发明专利]投影画面梯形校正的测试方法及装置在审

专利信息
申请号: 202211403071.7 申请日: 2022-11-10
公开(公告)号: CN115914598A 公开(公告)日: 2023-04-04
发明(设计)人: 王凯;曹山;戴清华 申请(专利权)人: 峰米(重庆)创新科技有限公司
主分类号: H04N9/31 分类号: H04N9/31
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 400071 重庆市江*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 投影 画面 梯形 校正 测试 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种投影画面梯形校正的测试方法,其特征在于,包括:

获取拍摄图像,所述拍摄图像中包括投影设备经过梯形校正后投射的投影画面;

将所述拍摄图像进行小波变换,并将小波变换后的拍摄图像划分成若干个检测区域;

获取各所述检测区域中各像素点的模值及幅角,并以各所述检测区域中的各像素点为起始点,分别沿对应的所述幅角确定的梯度方向寻找边界点;

根据寻找的所有边界点确定所述投影画面的检测边界;

将所述检测边界与标准投影画面的边界进行比较,确定所述投影画面梯形校正的检测结果。

2.根据权利要求1所述的投影画面梯形校正的测试方法,其特征在于,所述将所述拍摄图像进行小波变换包括:

选取平滑的二维函数θ(x,y);

对所述二维函数θ(x,y)在x方向和y方向求偏导数,得到x方向和y方向的小波函数和

令小波函数和在尺度a下的小波扩展为:

所述拍摄图像的函数f(x,y)在尺度a下沿水平和垂直方向的小波变换的滤波结果分别为:

3.根据权利要求2所述的投影画面梯形校正的测试方法,其特征在于,各所述检测区域中各像素点的模值及幅角分别为:

4.根据权利要求2所述的投影画面梯形校正的测试方法,其特征在于,所述二维函数θ(x,y)为高斯函数,其中:

5.根据权利要求1所述的投影画面梯形校正的测试方法,其特征在于,各所述检测区域包括2*2个像素点,所述以各所述检测区域中的各像素点为起始点,分别沿对应的所述幅角确定的梯度方向寻找边界点包括:

以各所述检测区域中的各像素点为起始点,分别沿对应的所述幅角确定的梯度方向寻找检测点,比较所述起始点的模值和所述检测点的模值;

若所述检测点的模值大于所述起始点的模值,则确定所述检测点为边界点;

若所述检测点的模值小于等于所述起始点的模值,则以所述检测点为新的起始点,并沿其幅角确定的梯度方向在相邻的新的检测区域中继续寻找边界点。

6.根据权利要求1所述的投影画面梯形校正的测试方法,其特征在于,所述获取拍摄图像之前,还包括:

控制放置所述投影设备的旋转台沿设定方向转动,以使所述投影设备转动预设角度。

7.一种投影画面梯形校正的测试装置,其特征在于,包括:

拍摄模块,用于获取拍摄图像,所述拍摄图像中包括投影设备经过梯形校正后投射的投影画面;

处理模块,用于将所述拍摄图像进行小波变换,并将小波变换后的拍摄图像划分成若干个检测区域;获取各所述检测区域中各像素点的模值及幅角,并以各所述检测区域中的各像素点为起始点,分别沿对应的所述幅角确定的梯度方向寻找边界点;根据寻找的所有边界点确定所述投影画面的检测边界;以及将所述检测边界与标准投影画面的边界进行比较,确定所述投影画面的校正检测结果。

8.权利要求7所述的投影画面梯形校正的测试装置,其特征在于,所述处理模块具体用于:

选取平滑的二维函数θ(x,y);

对所述二维函数θ(x,y)在x方向和y方向求偏导数,得到x方向和y方向的小波函数和

令小波函数和在尺度a下的小波扩展为:

所述拍摄图像的函数f(x,y)在尺度a下水平和垂直方向的小波变换的滤波结果分别为:

9.权利要求8所述的投影画面梯形校正的测试装置,其特征在于,各所述检测区域中各像素点的模值及幅角分别为:

10.权利要求7所述的投影画面梯形校正的测试装置,其特征在于,各所述检测区域包括2*2个像素点,所述处理模块还具体用于:

以各所述检测区域中的各像素点为起始点,分别沿对应的所述幅角确定的梯度方向寻找检测点,比较所述起始点的模值和所述检测点的模值;

若所述检测点的模值大于所述起始点的模值,则确定所述检测点为边界点;

若所述检测点的模值小于等于所述起始点的模值,则以所述检测点为新的起始点,并沿其幅角确定的梯度方向在相邻的新的检测区域中继续寻找边界点。

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