[发明专利]一种电压校正方法及装置有效
申请号: | 202211373421.X | 申请日: | 2022-11-04 |
公开(公告)号: | CN115421548B | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
发明(设计)人: | 卜佳平;高升;吴任;张超 | 申请(专利权)人: | 海的电子科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | G05F1/56 | 分类号: | G05F1/56 |
代理公司: | 苏州德坤知识产权代理事务所(普通合伙) 32523 | 代理人: | 赵松 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电压 校正 方法 装置 | ||
1.一种电压校正方法,应用于点屏设备的负载反馈电路,其特征在于,包括:对负载反馈电路中用于采集负载端电压的AD芯片的反馈值进行校正;
所述对负载反馈电路中用于采集负载端电压的AD芯片的反馈值进行校正具体包括:
校正上位机向模拟负载端提供多组第一拟合电位,所述第一拟合电位为递减排序的电压信号;
控制模块控制AD芯片在各第一拟合电位下对模拟负载端电压采样,获取第一采样值,并在第一拟合电位切换时通过跳变时间避让算法控制AD芯片采样,以避免AD芯片将电源输出端电解电容充电所造成的跳变电压作为第一采样值;
校正上位机控制台表在各第一拟合电位下对模拟负载端电压采样,获取第二采样值,并在第一拟合电位切换时通过跳变时间避让算法控制台表采样,以避免台表将电源输出端电解电容充电所造成的跳变电压作为第二采样值;
校正上位机根据接收到的第一采样值和第二采样值进行多段拟合计算得到AD校正函数,并将AD校正函数发送至控制模块存储,控制模块通过AD校正函数校正AD芯片的反馈值;
所述跳变时间避让算法包括,在对负载反馈电路中用于采集负载端电压的AD芯片的反馈值进行校正前,校正上位机计算跳变时间并发送至控制模块存储,第一拟合电位切换时,控制模块延时跳变时间后控制AD芯片采样,校正上位机延时跳变时间后控制台表采样;
跳变时间t通过根据点屏设备电源输出端电解电容充电特性得出的以下公式计算:
其中,t是跳变时间,C是电源输出端电解电容的最大电容值,R是电源内阻,E是电源输出端电压的初始值,Vf是电源输出端电压的跳变峰值;
校正上位机根据接收到的第一采样值和第二采样值进行多段拟合计算得到的AD校正函数为:
其中,V1为AD芯片的理想反馈值,VAD为AD芯片的实际反馈值,c、d为校正系数;
通过将至少两组第一采样值作为VAD,以及相同第一拟合电位下的第二采样值作为V1带入AD校正函数中算得校正系数c、d。
2.根据权利要求1所述的电压校正方法,其特征在于,所述对负载反馈电路中用于采集负载端电压的AD芯片的反馈值进行校正前还包括对负载反馈电路中用于配置电源输出端电压的DA芯片的输出值进行校正;
所述对负载反馈电路中用于配置电源输出端电压的DA芯片的输出值进行校正具体包括:
校正上位机向控制模块提供多组第二拟合电位,所述第二拟合电位为递增或递减排序的电压信号,控制模块控制DA芯片按照第二拟合电位配置电源输出端电压;
校正上位机控制台表在各第二拟合电位下对电源输出端的电压采样,获取第三采样值;
校正上位机根据第二拟合电位和接收到的第三采样值进行多段拟合计算得到DA校正函数,并将DA校正函数发送至控制模块存储,控制模块通过DA校正函数校正DA芯片的输出值;
校正上位机根据第二拟合电位和接收到的第三采样值进行多段拟合计算得到的DA校正函数为:
其中,VDA为电源输出端的理想输出电压,V2为电源输出端的实际输出电压,a、b为校正系数;
通过将至少两组第二拟合电位作为VDA,以及相同第二拟合电位下的第三采样值作为V2带入DA校正函数中算得校正系数a、b。
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