[发明专利]一种声光可调谐滤波器切型标定方法

权利要求书

1.一种声光可调谐滤波器切型标定方法，其特征在于，通过固定波长光源在不同入射极角条件下的匹配超声频率进行采样，以实验数据与仿真数据最小均方根误差作为评价指标，遍历求解AOTF器件晶体切型参数进行拟合。

2.如权利要求1所述的一种声光可调谐滤波器切型标定方法，其特征在于，在建立了AOTF器件晶体切型参数与外部定标参数之间关系的精确理论模型基础上，设计了定标参数测试装置。

3.如权利要求1所述的一种声光可调谐滤波器切型标定方法，其特征在于，该方法需要翻转AOTF器件的入射面和出射面，分别进行标定，从而实现对AOTF器件的三个特征切角进行完整精确标定。

4.如权利要求1所述的一种声光可调谐滤波器切型标定方法，其特征在于，该方法的具体标定步骤为：

(1)建立精确的AOTF参数理论模型；

(2)通过测试装置获取入射极角、匹配调谐频率等定标参数组；

(3)遍历输入AOTF晶体切型参数，获取相应的理论定标参数组；

(4)计算实测数据组与理论数据组之间的均方根误差，以最小均方根误差准则进行判断；

(5)输出待测AOTF器件晶体切型参数，该参数组对应于最小均方根误差时第(3)步所输入的晶体切型参数。

5.如权利要求1所述的一种声光可调谐滤波器切型标定方法，其特征在于，AOTF器件晶体切型参数与外部定标参数之间关系的精确理论模型，主要针对二氧化碲(TeO₂)声光晶体，考虑了该其旋光特性的影响，实现了相关参数的精确解析求解。

6.如权利要求1所述的一种声光可调谐滤波器切型标定方法，其特征在于，外部定标参数测试装置由单色激光器、起偏器、待测AOTF器件、精密旋转台及光电探测器构成；其中，单色激光器波长需已知，精密旋转台可精确读数，光电探测器可使用相应波长范围的功率计或相机。

7.如权利要求1所述的一种声光可调谐滤波器切型标定方法，其特征在于，AOTF器件晶体切型的三个特征切角，分别为：

(1)晶体入射面与晶轴[110]之间的夹角以下简称入射切角；

(2)晶体超声换能器面与晶轴[001]之间的夹角θ_α，以下简称超声切角；

(3)晶体出射面与晶体入射面之间的夹角θ_β，以下简称出射切角。