[发明专利]一种测量装置在审

专利信息
申请号: 202211346888.5 申请日: 2022-10-31
公开(公告)号: CN115523819A 公开(公告)日: 2022-12-27
发明(设计)人: 刘建聪 申请(专利权)人: 刘建聪
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02;G01B5/08;G01B5/12
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张海燕
地址: 410000 湖南省长沙市雨花区沙*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种测量装置,其特征在于,包括:

本体,设有原点刻度,用于围设在所述待测物的内外周;

第一刻度,设于所述本体,包括依次分布的多根第一刻度线,且全部所述第一刻度线以所述原点刻度为起点朝向所述本体的长度方向一侧延伸,所述第一刻度线所标注的数值L逐渐增大,所述原点刻度和不同所述第一刻度线之间的距离F(L)按照公式逐一分布,其中,

L为每一所述第一刻度线所标注的数值,且任意相邻的两个所述第一刻度线所标注的数值之差为所述第一刻度的最小量程k;

x为所述本体的厚度中性层参数,当所述测量装置用于测量外径时,x取正数,当所述测量装置用于测量内径时,x取负数;

t为所述本体的厚度;

d为所述本体的宽度;以及,

第二刻度,设于所述本体,包括均匀分布的多根第二刻度线,且全部所述第二刻度线以所述原点刻度为起点朝向所述本体的长度方向另一侧延伸,所述第二刻度线标注有数值L’,所述第二刻度线的起点刻度值为0值,并延伸至所述最小量程k处,所述第二刻度所标注的最大量程为所述第一刻度的最小量程k。

2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述第一刻度线处设有箭头,所述箭头至少指向所述本体的宽度方向的一侧,在测量所述待测物的周长时,所述本体围设在所述待测物的外周或内侧,且所述本体对边边线相切,所述箭头指向所述第二刻度线,用于获取所述标注数值所对应的位于所述第二刻度范围内的对应数值。

3.根据权利要求2所述的测量装置,其特征在于,所述第一刻度线和所述第二刻度线设置在所述本体的宽度方向两侧。

4.一种测量装置,其特征在于,包括:

本体,设有原点刻度,用于围设在所述待测物的内外周;

第一刻度,设于所述本体,包括依次分布的多根第一刻度线,任一所述第一刻度线对应设有通孔,紧邻任一所述通孔设有对应于不同所述第一刻度线所标注的数值L,全部所述第一刻度线以所述原点刻度为起点朝向所述本体的长度方向一侧延伸,所述第一刻度线所标注的数值L逐渐增大,所述原点刻度和不同所述第一刻度线之间的距离F(L)按照公式F(L)=L+2xtπ+a逐一分布,其中,

L为每一所述第一刻度线所标注的数值,且任意相邻的两个所述第一刻度线所标注的数值之差为所述第一刻度的最小量程k;

x为所述本体的厚度中性层参数,当所述测量装置用于测量外径时,x取正数,当所述测量装置用于测量内径时,x取负数;

t为所述本体的厚度;

a的取值范围是至之间,

m为所述本体的第二刻度的读数位置至所述本体被所述第一刻度叠置在下的平均长度,

t为所述本体的厚度;

所述第二刻度,设于所述本体,包括均匀分布的多根第二刻度线,且全部所述第二刻度线以所述原点刻度为起点朝向所述本体的长度方向另一侧延伸,所述第二刻度线标注有数值L’,不同所述数值L’位于对应的所述第二刻度线中间,所述第二刻度所标注的最大量程为所述第一刻度的最小量程k,所述通孔用于显示叠置在下层的所述数值L’;以及,

第三刻度,设于所述本体,包括以所述第二刻度线的起始点朝向第二刻度方向一侧延伸、且均匀布设的2n个标识,任意相邻的两个所述标识之间的间距为k/n;

所述第三刻度还包括随所述第一刻度线的延伸方向依次布设的n个孔洞,任意相邻的两个所述孔洞之间的间距为k(n-1)/n,紧邻所述孔洞设有第三刻度数值,所述标识和所述孔洞位于所述本体在宽度方向上的同一侧;其中,k为所述第二刻度所标注的最大量程,n为正整数。

5.根据权利要求4所述的测量装置,其特征在于,所述标识为实心圆形,所述孔洞为和所述实心圆形的尺寸适配的圆形孔洞。

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