[发明专利]一种镜片检测方法及多工位检测装置

权利要求书

1.一种镜片检测方法，其特征在于，包括：

S1、获取待测镜片的镜片图像，所述镜片图像包括第一组图像和第二组图像；

S2、对镜片图像进行分析处理；包括：

S201、初次提取缺陷特征：对第一组图像和第二组图像分别进行局部阈值处理得到第一组图像的缺陷特征和第二组图像的缺陷特征；

S202、再次提取缺陷特征：

首先遍历比较第一组图像中的每个像素，选择每个位置像素点灰度最大的值，合成为新的第一对比图像；然后对第一对比图像依次进行乘法运算和全局阈值处理，得到第一对比图像的缺陷特征；

首先遍历比较第二组图像中的每个像素，选择每个位置像素点灰度最大的值，合成为新的第二对比图像；然后对第二对比图像依次进行乘法运算和全局阈值处理，得到第二对比图像的缺陷特征；

S203、缺陷特征合并：将S201中得到的第一组图像的缺陷特征和S202中得到的第一对比图像的缺陷特征合并一起得到第一组图像的所有缺陷特征，将S201中得到的第二组图像的缺陷特征和S202中得到的第二对比图像的缺陷特征合并一起得到第二组图像的所有缺陷特征；

S204、将第一组图像的所有缺陷特征仿射变换到第二组图像的所有缺陷特征位置，将所述第一组图像和第二组图像对应位置的缺陷特征分别进行膨胀，对膨胀后的缺陷特征进行差分运算，得到差值图像，将差值图像上的非0像素点认定为镜片本身的缺陷，将由非0转为0的像素点认定为灰尘。

2.根据权利要求1所述的镜片检测方法，其特征在于，在S1中，第一组图像是待测镜片除尘前的图像，第二组图像为待测镜片除尘后的图像。

3.根据权利要求2所述的镜片检测方法，其特征在于，在S1中，所述第一组图像包括待测镜片的图像和定位标识图像，所述第二组图像包括待测镜片的图像和定位标识图像。

4.根据权利要求3所述的镜片检测方法，其特征在于，所述定位标识为位于待测镜片四周的四个定位孔，四个定位孔位于矩形框的四个顶角位置。

5.根据权利要求4所述的镜片检测方法，其特征在于，所述仿射变换的过程为：

a、确定基准点坐标差值：分别将第一组图像中待测镜片的轮廓和第二组图像中待测镜片的轮廓拟合为圆，提取第一组图像的圆心作为源点坐标，提取第二组图像的圆心作为目标点坐标；计算源点坐标和目标点坐标的差值得到基准点坐标差值；

b、确定夹角差值：计算第一组图像的定位标识图像的四个定位孔形成的矩形框与水平线的第一夹角，计算第二组图像的定位标识图像的四个定位孔形成的矩形框与水平线的第二夹角；计算第一夹角和第二夹角的差值得到夹角差值；

c、利用基准点坐标差值和夹角差值确定变换矩阵；

d、通过变换矩阵将第一组图像的所有缺陷特征仿射变换到第二组图像的所有缺陷特征位置。

6.根据权利要求1所述的镜片检测方法，其特征在于，S2还包括：通过衍射原理检测镜片膜层不到边缺陷。

7.根据权利要求1所述的镜片检测方法，其特征在于，S2还包括：镜片脱膜和挂边缺陷分析。

8.一种镜片检测用多工位检测装置，其特征在于，包括：

第一工位：获取第一组图像，通过第一组图像提取待测镜片的位置和定位孔位置，提取待测镜片上的缺陷特征；

第二工位：获取第二组图像，通过第二组图像提取待测镜片的位置和定位孔位置，提取待测镜片上的缺陷特征；

第三工位：用碗光源打光，获取第三图像，通过第三图像分析得到镜片膜层不到边缺陷；

第四工位：用两个倾斜的点光源分别打光，透过镜片拍摄镜片在背景板上的投影，获取镜片脱膜和挂边缺陷；

图像处理模块：包括：

初次提取缺陷特征：对第一组图像和第二组图像分别进行局部阈值处理得到第一组图像的缺陷特征和第二组图像的缺陷特征；

再次提取缺陷特征：

首先遍历比较第一组图像中的每个像素，选择每个位置像素点灰度最大的值，合成为新的第一对比图像；然后对第一对比图像依次进行乘法运算和全局阈值处理，得到第一对比图像的缺陷特征；

首先遍历比较第二组图像中的每个像素，选择每个位置像素点灰度最大的值，合成为新的第二对比图像；然后对第二对比图像依次进行乘法运算和全局阈值处理，得到第二对比图像的缺陷特征；

缺陷特征合并：将第一组图像的缺陷特征和第一对比图像的缺陷特征合并一起得到第一组图像的所有缺陷特征，将第二组图像的缺陷特征和第二对比图像的缺陷特征合并一起得到第二组图像的所有缺陷特征；

将第一组图像的所有缺陷特征仿射变换到第二组图像的所有缺陷特征位置，将所述第一组图像和第二组图像对应位置的缺陷特征分别进行膨胀，对膨胀后的缺陷特征进行差分运算，得到差值图像，将差值图像上的非0像素点认定为镜片本身的缺陷，将由非0转为0的像素点认定为灰尘。