[发明专利]一种基于深度学习的压缩感知磁共振图像快速重建方法在审

专利信息
申请号: 202211296545.2 申请日: 2022-10-21
公开(公告)号: CN115511996A 公开(公告)日: 2022-12-23
发明(设计)人: 侯学文;姜小平;聂生东;杨光;蔡昕;苏新宇 申请(专利权)人: 上海康达卡勒幅医疗科技有限公司
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 代理人: 卢泓宇
地址: 200444 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 深度 学习 压缩 感知 磁共振 图像 快速 重建 方法
【权利要求书】:

1.一种基于深度学习的压缩感知磁共振图像快速重建方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:采集磁共振K空间原始数据,得到K空间原始数据Kfid

S2:基于压缩感知理论构建欠采样模板mask,通过所述欠采样模板mask模拟欠采样K空间数据,得到欠采样K空间数据Kcs-fid

S3:对所述K空间原始数据Kfid和所述欠采样K空间数据Kcs-fid进行逆傅里叶变换处理得到全采样图像Iimg与欠采样图像Ics-img,并对所述全采样图像Iimg与所述欠采样图像Ics-img进行归一化处理,并保留归一化参数;

S4:基于Unet构建重建网络,通过所述重建网络对归一化处理后的所述全采样图像Iimg与所述欠采样图像Ics-img进行处理得到重建图像Irecon

S5:对所述重建图像Irecon进行保真操作,得到保真图像Idata-consistency

2.根据权利要求1所述的基于深度学习的压缩感知磁共振图像快速重建方法,其特征在于:

在步骤S1中,所述K空间原始数据能够为任意部位、任意模态以及任意矩阵大小的数据。

3.根据权利要求1所述的基于深度学习的压缩感知磁共振图像快速重建方法,其特征在于:

在步骤S2中,所述欠采样模板mask符合高斯分布,其第二主峰高度低于第一主峰高度。

4.根据权利要求1所述的基于深度学习的压缩感知磁共振图像快速重建方法,其特征在于:

在步骤S3中,所述全采样图像Iimg与所述欠采样图像Ics-img归一化处理后分布在[0,1]之间。

5.根据权利要求1所述的基于深度学习的压缩感知磁共振图像快速重建方法,其特征在于:

在步骤S4中,所述重建网络包括编码层和解码层,所述编码层包含5个编码模块,每个模块由两个卷积层组成,其卷积核个数分别为32、64、128、256、512,所述解码层包含5个解码模块,每个模块由两个反卷积层组成,其卷积核个数分别为512、256、128、64、32,

所述解码层中最后一个卷积层使用softmax激活函数,其余卷积层使用adam激活函数。

6.根据权利要求5所述的基于深度学习的压缩感知磁共振图像快速重建方法,其特征在于:

其中,每一所述编码模块均有一所述解码模块与之对应,相对应的所述编码模块与所述解码模块进行跳跃连接。

7.根据权利要求1所述的基于深度学习的压缩感知磁共振图像快速重建方法,其特征在于:

在步骤S4中,所述重建网络的输入层为所述欠采样图像Ics-img,输出层为所述全采样图像Iimg,所述输入层数据和所述输出层数据一一对应。

8.根据权利要求1所述的基于深度学习的压缩感知磁共振图像快速重建方法,其特征在于:

其中,步骤S5包括如下子步骤:

S51,截取所述欠采样模板mask中心连续部分,得到低频欠采样矩阵masklow

S52,利用所述低频欠采样矩阵masklow对所述空间K原始数据Kfid进行掩膜得到低频欠采样K空间矩阵Kcs-fid-low,对所述低频欠采样K空间矩阵Kcs-fid-low进行逆傅里叶变换得到低频欠采样图像Ics-img-low,求取所述低频欠采样图像Ics-img-low的第一相位角

S53,利用所述归一化参数对所述重建图像Irecon进行反归一化,并与所述第一相位角相乘恢复所述重建图像Irecon的相位信息,得到复数图像Irecon-complex

S54,对所述复数图像Irecon-complex进行傅里叶变换得到重建后的K空间数据Krecon,求取所述重建后的K空间数据Krecon的第二相位角

S55,利用所述欠采样模板mask对所述重建后的K空间数据Krecon进行掩膜得到欠采样重建后的K空间数据Kcs-recon

S56,将所述欠采样K空间数据Kcs-fid的模值Kcs-fid-abs与所述欠采样重建后的K空间数据Kcs-recon的模值Kcs-recon-abs进行线性回归操作,线性回归公式为Kcs-recon-abs=a*Kcs-fid-abs+b,得到线性回归系数斜率a和截距b的值;

S57,使用所述斜率a和所述截距b对所述重建后的K空间数据Krecon进行放缩,放缩公式为Kdata-consistency=(abs(Krecon)-b)/a,得到保真后的K空间数据Kdata-consistency

S58,所述保真后的K空间数据Kdata-consistency与所述第二相位角相乘恢复K空间的相位信息,得到保真后的复数K空间数据Kdata-consistency-complex,并将所述欠采样K空间数据Kcs-fid中不为零的数据替换至所述保真后的复数K空间数据Kdata-consistency-complex中;

S59,对所述保真后的复数K空间数据Kdata-consistency-complex进行逆傅里叶变换得到所述保真图像Idata-consistency

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