[发明专利]电阻值的测量方法、测量装置、测量设备以及存储介质

说明书

本申请涉及一种电阻值的测量方法、测量装置、测量设备以及存储介质。所述方法包括：获取待测电阻的初始电阻值；根据所述初始电阻值与预设的拟合参数获取所述待测电阻的误差值；根据所述初始电阻值与所述待测电阻的误差值计算得到所述待测电阻的最终电阻值。采用本方法能够使得计算的最终电阻值更加精确，避免了现有技术中整体缩小或放大的问题。

技术领域

本申请涉及电学技术领域，特别是涉及一种电阻值的测量方法、测量装置、测量设备以及存储介质。

背景技术

电阻值的测量对于电子设备的应用来说起到关键性的作用。例如绝缘值的测量来获取电子设备的绝缘性能，从而保证电子设备正常工作。在车辆应用中，可进一步保证司乘人员安全和车辆安全运行等。

国标对绝缘值误差要求是±20％。在实际应用中，对于误差的处理方法通常是直接乘以一个缩小或放大因子，例如：采集到的电阻值×缩小因子/放大因子。该种方法存在的缺陷包括：第一，会整体将采集到的电阻值缩小或者放大，会增大误差；第二，会导致电阻值过低或者过高，故障警告上报不准等其他故障。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种电阻值的测量方法、测量装置、测量设备以及存储介质，以解决采集的电阻值过低或过高等较大误差导致故障警告不准确的问题。

第一方面，本申请提供了电阻值的测量方法，所述方法包括：

获取待测电阻的初始电阻值；

根据所述初始电阻值与预设的拟合参数获取所述待测电阻的误差值；

根据所述初始电阻值与所述待测电阻的误差值计算得到所述待测电阻的最终电阻值。

在其中一个实施例中，根据所述初始电阻值与预设的拟合参数获取所述待测电阻的误差值的步骤之前包括：

获取多个电阻的电阻值样本以及每个所述电阻值样本对应的误差值；

根据所述电阻值样本与所述电阻值样本对应的误差值进行仿真拟合，得到所述拟合参数。

在其中一个实施例中，所述根据所述初始电阻值与预设的拟合参数获取所述待测电阻的误差值，包括：

所述拟合参数、所述初始电阻值以及所述待测电阻的误差值之间满足以下关系式：

f(x)＝ax³+bx²+cx+d

其中，x是所述初始电阻值，f(x)是所述待测电阻的误差值，a、b、c以及d是所述拟合参数。

在其中一个实施例中，根据所述初始电阻值与所述待测电阻的误差值计算得到所述待测电阻的最终电阻值的步骤包括：

判断所述待测电阻的误差值是否超出预设的误差范围；

若判断的结果为是，则根据所述待测电阻的误差值获取修正电阻值，并根据所述初始电阻值与所述修正电阻值计算得到所述待测电阻的最终电阻值；

若判断的结果为否，则以所述初始电阻值作为所述最终电阻值。

在其中一个实施例中，根据所述待测电阻的误差值获取修正电阻值的步骤包括：

根据以下公式获取所述修正电阻值：

g(x)＝k*F(x)

其中，g(x)为所述修正电阻值，k为误差修正系数，所述F(x)与所述待测电阻的误差值f(x)的关系如下：

或者

在其中一个实施例中，当所述F(x)与所述待测电阻的误差值f(x)的关系如下：

时，