[发明专利]支持自销毁密钥的密码卡在审

专利信息
申请号: 202211262252.2 申请日: 2022-10-14
公开(公告)号: CN115511033A 公开(公告)日: 2022-12-23
发明(设计)人: 张朋新;王佶 申请(专利权)人: 中金金融认证中心有限公司
主分类号: G06K19/073 分类号: G06K19/073;G06K19/07;G06F21/87;G06F21/79;G06F21/77
代理公司: 北京维昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11804 代理人: 刁益帆
地址: 100054 北京市西城区菜市口*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 支持 销毁 密钥 密码
【权利要求书】:

1.一种支持自销毁密钥的密码卡,其特征在于,包括:

外壳、PCB基板、SoC芯片(110)、开盖检测电路(120)和开盖检测装置(130);

其中,所述开盖检测装置(130)包括:设置在所述外壳上的金属弹片和设置在所述PCB基板上的焊盘(131);所述SoC芯片(110)通过所述开盖检测电路(120)与所述焊盘(131)连接;

所述金属弹片设置在所述焊盘(131)的对应位置,并在所述外壳处于封闭状态时,所述金属弹片与所述焊盘(131)接触连接,使得所述开盖检测电路(120)导通;在所述外壳处于开盖状态时,所述金属弹片与所述焊盘(131)分离,使得所述开盖检测电路(120)断开,所述SoC芯片(110)启动密钥自销毁功能。

2.根据权利要求1所述的支持自销毁密钥的密码卡,其特征在于,

所述焊盘(131)包括相互隔离的第一区域(1311)与第二区域(1312),所述SoC芯片(110)的第一SDI引脚通过所述开盖检测电路(120)连接于所述焊盘(131)的第一区域(1311),所述SoC芯片(110)的第二SDI引脚通过所述开盖检测电路(120)连接于所述焊盘(131)的第二区域(1312);

在所述外壳处于封闭状态时,所述金属弹片分别与所述焊盘(131)的第一区域(1311)与第二区域(1312)接触连接,使得所述第一区域(1311)与所述第二区域(1312)连接形成导通的开盖检测电路。

3.根据权利要求2所述的支持自销毁密钥的密码卡,其特征在于,

所述SoC芯片(110)用于通过第一SDI引脚发出随机信号序列,并通过第二SDI引脚接收所述随机信号序列以确定所述开盖检测电路的状态,在所述第一SDI引脚发出随机信号序列且所述第二SDI引脚未接收到随机信号序列时,所述SoC芯片(110)启动密钥自销毁功能。

4.根据权利要求1所述的支持自销毁密钥的密码卡,其特征在于,

所述开盖检测装置(130)包括:多个所述金属弹片和多个所述焊盘(131)。

5.根据权利要求1所述的支持自销毁密钥的密码卡,其特征在于,还包括:

FPGA主控芯片(140)和温度传感器(150);

所述温度传感器(150)通过I2C接口与所述FPGA主控芯片(140)通信连接,用于读取所述PCB基板的温度,并将所述PCB基板的温度发送至所述FPGA主控芯片(140);

所述FPGA主控芯片(140)通过SPI接口与所述SoC芯片(110)通信连接,用于将所述PCB基板的温度发送至所述SoC芯片(110),使得所述SoC芯片(110)在所述PCB基板的温度位于预设温度范围之外时,启动密钥自销毁功能。

6.根据权利要求1所述的支持自销毁密钥的密码卡,其特征在于,还包括:

FPGA主控芯片(140)和电压检测装置(160);

所述电压检测装置(160)通过I2C接口与所述FPGA主控芯片(140)通信连接,用于读取所述PCB基板的多路电压值,并将所述多路电压值发送至所述FPGA主控芯片(140);

所述FPGA主控芯片(140)通过SPI接口与所述SoC芯片(110)通信连接,用于将所述多路电压值发送至所述SoC芯片(110),使得所述SoC芯片(110)在所述多路电压值中任一路电压值超过预设电压阈值时,启动密钥自销毁功能。

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