[发明专利]双偏振联合信号噪声处理方法和噪声处理装置

权利要求书

1.一种双偏振联合信号噪声处理方法，其特征在于，包括：

分别计算X偏振态上的X噪声相关系数和Y偏振态上的Y噪声相关系数，所述X噪声相关系数用于表征训练离散谱特征值的训练特征值噪声和所述X偏振态上的X训练离散谱系数的X训练系数噪声之间的相关性，所述Y噪声相关系数用于表征训练特征值噪声与所述Y偏振态上的训练离散谱系数的Y训练系数噪声之间的相关性，所述训练离散谱特征值和所述训练离散谱系数为被训练的非线性频分复用信号在频域上的属性，所述X偏振态和所述Y偏振态为被训练的所述非线性频分复用信号在时域上的两个偏振态；

依据实测离散谱特征值的实测特征值噪声、所述X噪声相关系数、所述Y噪声相关系数，得到位于所述X偏振态上的X实测离散谱系数所包含的X实测系数噪声和位于所述Y偏振态上的Y实测离散谱系数所包含的Y实测系数噪声，所述实测离散谱特征值和所述X实测离散谱系数以及所述Y实测离散谱系数为实测的非线性频分复用频域信号的属性；

依据所述X实测系数噪声和所述Y实测系数噪声以及所述X实测离散谱系数和所述Y实测离散谱系数，得到噪声补偿之后的所述X实测离散谱系数和噪声补充之后的所述Y实测离散谱系数，所述噪声补偿用于表征去噪信息。

2.如权利要求1所述的双偏振联合信号噪声处理方法，其特征在于，所述分别计算X偏振态上的X噪声相关系数和Y偏振态上的Y噪声相关系数，所述X噪声相关系数用于表征训练离散谱特征值的训练特征值噪声和所述X偏振态上的X训练离散谱系数的X训练系数噪声之间的相关性，所述Y噪声相关系数用于表征训练特征值噪声与所述Y偏振态上的训练离散谱系数的Y训练系数噪声之间的相关性；所述训练离散谱特征值和所述训练离散谱系数为被训练的非线性频分复用信号在频域上的属性，所述X偏振态和所述Y偏振态为被训练的所述非线性频分复用信号在时域上的两个偏振态，包括：

依据所述训练特征值噪声，得到所述训练特征值噪声中的X训练特征值噪声和Y训练特征值噪声，所述X训练特征值噪声用于表征位于所述X偏振态上的训练离散谱特征值所包含的噪声，所述Y训练特征值噪声用于表征位于所述Y偏振态上的训练离散谱特征值所包含的噪声；

将所述X训练特征值噪声和所述Y训练特征值噪声分别进行相同位数的移位，分别得到移位之后的所述X训练特征值噪声和所述Y训练特征值噪声，所述X训练特征值噪声和所述Y训练特征值噪声均为时序噪声，所述移位为所述时序噪声按照设定时序方向移位；

按照所述X训练特征值噪声、移位之后的所述X训练特征值噪声、所述Y训练特征值噪声、移位之后的所述Y训练特征值噪声的排列顺序构建训练噪声矩阵；

依据所述训练噪声矩阵、所述Y训练系数噪声、所述X训练系数噪声，得到X噪声相关系数和Y噪声相关系数。

3.如权利要求2所述的双偏振联合信号噪声处理方法，其特征在于，所述依据所述训练噪声矩阵、所述Y训练系数噪声、所述X训练系数噪声，得到X噪声相关系数和Y噪声相关系数，包括：

将所述训练噪声矩阵乘以X设定参数矩阵，得到X乘矩阵，所述X设定参数矩阵由所述X噪声相关系数所对应的参数组成；

计算所述X训练系数噪声与所述X乘矩阵之间的均方差最小时，确定所述X设定参数矩阵内的各个元素值；

依据所述X设定参数矩阵内的各个元素值，得到所述X噪声相关系数；

将所述训练噪声矩阵乘以Y设定参数矩阵，得到Y乘矩阵，所述Y设定参数矩阵由所述Y噪声相关系数所对应的参数组成；

计算所述Y训练系数噪声与所述Y乘矩阵之间的均方差最小时，确定所述Y设定参数矩阵内的各个元素值；

依据所述Y设定参数矩阵内的各个元素值，得到所述Y噪声相关系数。

4.如权利要求1所述的双偏振联合信号噪声处理方法，其特征在于，所述依据实测离散谱特征值的实测特征值噪声、所述X噪声相关系数、所述Y噪声相关系数，得到位于所述X偏振态上的X实测离散谱系数所包含的X实测系数噪声和位于所述Y偏振态上的Y实测离散谱系数所包含的Y实测系数噪声，包括：

依据所述实测特征值噪声，得到所述实测特征值噪声中的位于所述X偏振态上的X实测特征值噪声和位于所述Y偏振态上的Y实测特征值噪声；

将所述X实测特征值噪声乘以所述X噪声相关系数，得到所述X实测系数噪声；

将所述Y实测特征值噪声乘以所述Y噪声相关系数，得到所述Y实测系数噪声。