[发明专利]一种旁轴式激光测距装置及测距方法有效
申请号: | 202211246458.6 | 申请日: | 2022-10-12 |
公开(公告)号: | CN115308755B | 公开(公告)日: | 2022-12-23 |
发明(设计)人: | 宋小亮;李杨 | 申请(专利权)人: | 成都量芯集成科技有限公司 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01S7/481 |
代理公司: | 成都春夏知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 51317 | 代理人: | 夏琴 |
地址: | 610000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 旁轴式 激光 测距 装置 方法 | ||
1.一种旁轴式激光测距装置,其特征在于,包括基准信号发生器(4)、切换开关(5)、移相器(6)、激光驱动器(7)、阵列激光器(8)、接收主透镜(9)、光接收管(1)、信号调理电路(2)和处理器(3),所述处理器(3)分别连接基准信号发生器(4)和切换开关(5),所述基准信号发生器(4)连接切换开关(5),所述切换开关(5)连接移相器(6),所述移相器(6)连接激光驱动器(7),所述激光驱动器(7)连接阵列激光器(8),阵列激光器(8)发射端口和光接收管(1)接收端口分别对准被测物体,所述接收主透镜(9)位于被测物体与光接收管(1)之间,所述光接收管(1)连接信号调理电路(2),所述信号调理电路(2)接入至处理器(3);所述移相器(6)有多路移相通道(61),各移相通道(61)的输出端相连并接入激光驱动器(7),移相器(6)具有多个输入端,移相器(6)输入端数量与移相通道(61)数量相同。
2.根据权利要求1所述的一种旁轴式激光测距装置,其特征在于,所述激光驱动器(7)有多个,激光驱动器(7)数量与阵列激光器(8)发光点数量相同,每个激光驱动器(7)输出端连接到阵列激光器(8)的一个发光点。
3.根据权利要求1所述的一种旁轴式激光测距装置,其特征在于,所述移相器(6)有多个,移相器(6)数量与阵列激光器(8)发光点数量相同。
4.根据权利要求3所述的一种旁轴式激光测距装置,其特征在于,每个所述移相器(6)的移相通道的移相数值不同。
5.根据权利要求1所述的一种旁轴式激光测距装置,其特征在于,所述切换开关(5)有多个,所述移相器(6)有多个,切换开关(5)数量与移相器(6)数量相同,所述切换开关(5)和所述移相器(6)一一对应连接,每个切换开关(5)连接到一个移相器(6)的一个移相通道(61),所述切换开关(5)为单刀多掷开关。
6.一种旁轴式激光测距装置的测距方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1、处理器(3)控制基准信号发生器(4)产生调制信号;
步骤2、处理器(3)控制切换开关(5)将调制信号输送至移相器(6)默认的移相通道,然后激光驱动器(7)接收调制信号并驱动阵列激光器(8)产生第一光信号,第一光信号经被测物体反射;
步骤3、被测物体反射后的第一光信号由接收主透镜(9)汇聚至光接收管(1),然后经信号调理电路(2)送往处理器(3)处理得到被测物体的初次测量距离;
步骤4、处理器(3)根据初次测量距离判定是否为近距离测量,若是近距离测量,处理器(3)根据初次测量距离调节切换开关(5),使调制信号连接到移相器(6)对应测量的移相通道上进行移相,然后激光驱动器(7)接收移相后的调制信号并驱动阵列激光器(8)产生具有角度偏转的第二光信号,第二光信号经被测物体反射,被测物体反射后的第二光信号由接收主透镜(9)汇聚至光接收管(1),最后经信号调理电路(2)送往处理器(3)处理得到光路误差补偿后的被测物体距离。
7.根据权利要求6所述的一种旁轴式激光测距装置的测距方法,其特征在于,在所述步骤2中,默认的移相通道为直通,默认的移相通道的移相数值为零。
8.根据权利要求6所述的一种旁轴式激光测距装置的测距方法,其特征在于,在所述步骤4中,对应测量的移相通道的移相数值不为零。
9.根据权利要求6所述的一种旁轴式激光测距装置的测距方法,其特征在于,在所述步骤4中,近距离测量的判定为:处理器(3)根据固定光路误差得到近端距离,并将近端距离作为启动近端光路补偿的阈值,当初次测量距离小于该阈值时,判定初次测量距离是近距离测量,当初次测量距离大于该阈值时,判定初次测量距离不是近距离测量。
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