[发明专利]电能表计量失准分析方法、装置、存储介质及电子设备有效
申请号: | 202211237763.9 | 申请日: | 2022-10-11 |
公开(公告)号: | CN115291159B | 公开(公告)日: | 2023-02-21 |
发明(设计)人: | 樊琳;庞振江;王文赫;杜君;姜帆;胡启龙;武雨;梁华;秦理想;许晶;王鑫;刘永富;崔永旭;甄明 | 申请(专利权)人: | 北京智芯微电子科技有限公司;北京智芯半导体科技有限公司 |
主分类号: | G01R35/04 | 分类号: | G01R35/04;G06F17/12;G06F17/16 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 雷玉龙 |
地址: | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电能表 计量 失准 分析 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
1.一种电能表计量失准分析方法,其特征在于,所述方法包括:
获取表箱内各子表的电量数据序列和所述表箱的总表数据序列,所述电量数据序列根据预设时间内对应子表的电量数据构建,所述总表数据序列根据所述预设时间内所述表箱的总表数据构建;
根据所述电量数据序列和所述总表数据序列建立矩阵方程;
根据所述矩阵方程和预设约束条件确定所述表箱内各子表的异常系数,并根据所述异常系数判断对应的子表是否计量失准;
任意一时刻t,所述表箱内各子表的电量数据和所述表箱的总表数据满足下式:
,
其中,yt表示t时刻所述表箱的总表数据,表示t时刻的固定损耗,m表示所述表箱内子表的数量,表示第i个子表的异常系数,xti表示t时刻第i个子表的电量数据,1≤i≤m;
通过下式计算所述表箱内各子表的异常系数:
,
其中,表示计算得到的各子表的异常系数序列,,,表示t时刻总表数据与各子表电量数据加和的差值,,,表示2范数,n为所述预设时间内采集的总表数据和表箱内各子表的电量数据的组数,n≥m。
2.根据权利要求1所述的电能表计量失准分析方法,其特征在于,通过量测开关获取所述电量数据序列和所述总表数据序列,其中,所述量测开关设在所述表箱的进线处,并与所述表箱内的各子表通信连接。
3.根据权利要求1所述的电能表计量失准分析方法,其特征在于,所述根据所述异常系数判断对应的子表是否计量失准,包括:
判断所述异常系数是否大于预设异常阈值系数;
若是,则确定所述异常系数对应的子表计量失准。
4.根据权利要求2所述的电能表计量失准分析方法,其特征在于,所述量测开关与所述表箱内各子表之间通过RS485接口或载波接口通信连接。
5.一种电能表计量失准分析装置,其特征在于,所述装置包括:
获取模块,用于获取表箱内各子表的电量数据序列和所述表箱的总表数据序列,所述电量数据序列根据预设时间内对应子表的电量数据构建,所述总表数据序列根据所述预设时间内所述表箱的总表数据构建;
建立模块,用于根据所述电量数据序列和所述总表数据序列建立矩阵方程;
确定模块,用于根据所述矩阵方程和预设约束条件确定所述表箱内各子表的异常系数,并根据所述异常系数判断对应的子表是否计量失准;
任意一时刻t,所述表箱内各子表的电量数据和所述表箱的总表数据满足下式:
,
其中,yt表示t时刻所述表箱的总表数据,表示t时刻的固定损耗,m表示所述表箱内子表的数量,表示第i个子表的异常系数,xti表示t时刻第i个子表的电量数据,1≤i≤m;
通过下式计算所述表箱内各子表的异常系数:
其中,表示计算得到的各子表的异常系数序列,,,表示t时刻总表数据与各子表电量数据加和的差值,,,表示2范数,n为所述预设时间内采集的总表数据和表箱内各子表的电量数据的组数,n≥m。
6.根据权利要求5所述的电能表计量失准分析装置,其特征在于,所述获取模块包括量测开关,所述量测开关用于获取所述电量数据序列和所述总表数据序列,其中,所述量测开关设在所述表箱的进线处,并与所述表箱内的各子表通信连接。
7.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时,实现如权利要求1-4中任一项所述的电能表计量失准分析方法。
8.一种电子设备,其特征在于,包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时,实现如权利要求1-4中任一项所述的电能表计量失准分析方法。
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